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J-GLOBAL ID：200903039239080854

三次元形状計測装置及び三次元形状計測方法

Inventor：
中辻 敦忠

About 中辻 敦忠


Applicant, Patent owner：
NECエンジニアリング株式会社

About NECエンジニアリング株式会社


Agent (1)： 中井 潤
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006331394
Publication number (International publication number)：2008145209
Application date： Dec. 08, 2006
Publication date： Jun. 26, 2008
Summary：
【課題】物体の三次元形状を迅速に精度良く計測する。【解決手段】物体2に正弦波状の光パターンを投射するとともに、光パターンが投射された物体2を撮影し、その撮影画像に基づいて物体2の三次元形状を計測する三次元形状計測装置であって、短波長の光パターン20及び長波長の光パターン30の各々を物体2に投射するプロジェクタ3と、短波長の光パターン20及び長波長の光パターン30が投射された物体2を撮影するカメラ4と、カメラ4で撮影された画像に基づいて、短波長の光パターン20の相対位相及び長波長の光パターン30の相対位相を算出し、算出した長波長の光パターン30の相対位相に基づいて、短波長の光パターン20の相対位相と絶対位相との間のオフセット値を求め、該オフセット値と、算出した短波長の光パターン20の相対位相とに基づいて、物体2までの距離Zを求める制御部5とを備えることを特徴とする。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
物体に正弦波状の光パターンを投射するとともに、前記光パターンが投射された物体を撮影し、その撮影画像に基づいて前記物体の三次元形状を計測する三次元形状計測装置であって、 第1波長を有する第1光パターン及び前記第1波長より長い第2波長を有する第2光パターンの各々を前記物体に投射する投射手段と、 前記第1光パターン及び前記第2光パターンが投射された物体を撮影する撮影手段と、 前記撮影手段で撮影された画像に基づいて前記第1光パターン及び前記第2光パターンの相対位相を算出する位相算出手段と、 前記位相算出手段によって算出された前記第2光パターンの相対位相に基づいて前記第1光パターンの相対位相と絶対位相との間のオフセット値を求め、該オフセット値と、前記位相算出手段によって算出された前記第1光パターンの相対位相とに基づいて前記物体までの距離を求める位相接続手段とを備えることを特徴とする三次元形状計測装置。
IPC (5)：
G01B 11/25 ,  G01B 11/00 ,  G01C 3/06 ,  G01S 17/48 ,  G06T 1/00
FI (5)：
G01B11/25 H ,  G01B11/00 H ,  G01C3/06 110A ,  G01S17/48 ,  G06T1/00 315
F-Term (58)：
2F065AA04 ,  2F065AA06 ,  2F065AA20 ,  2F065AA53 ,  2F065DD06 ,  2F065FF04 ,  2F065FF09 ,  2F065FF43 ,  2F065HH01 ,  2F065HH06 ,  2F065HH07 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL18 ,  2F065LL41 ,  2F065NN01 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ27 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ38 ,  2F065RR09 ,  2F112AA09 ,  2F112CA08 ,  2F112CA12 ,  2F112CA13 ,  2F112DA13 ,  2F112DA32 ,  2F112EA07 ,  2F112FA03 ,  2F112FA21 ,  2F112FA35 ,  2F112FA38 ,  2F112GA01 ,  5B057BA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CH07 ,  5B057CH08 ,  5B057DA07 ,  5B057DC09 ,  5J084AA04 ,  5J084AA05 ,  5J084AA13 ,  5J084AD07 ,  5J084BA13 ,  5J084BA40 ,  5J084CA65 ,  5J084CA66 ,  5J084CA67 ,  5J084CA68 ,  5J084CA70 ,  5J084DA01 ,  5J084DA07 ,  5J084DA08 ,  5J084DA09
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (6)
  • 特許第3199041号公報
  • 位相計測システム
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2004-179829   Applicant：コニカミノルタセンシング株式会社
  • 三次元形状計測方法及びその装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-342026   Applicant：松下電器産業株式会社
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Cited by examiner (5)
  • 位相計測システム
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2004-179829   Applicant：コニカミノルタセンシング株式会社
  • 三次元形状計測方法及びその装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-342026   Applicant：松下電器産業株式会社
  • 外観計測装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-012221   Applicant：株式会社ニッケ機械製作所
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