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J-GLOBAL ID:200903047152295245
トンネル坑内の形状測定システムおよび形状測定方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
間山 進也
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001268052
Publication number (International publication number):2003075150
Application date: Sep. 04, 2001
Publication date: Mar. 12, 2003
Summary:
【要約】 (修正有)【課題】 写真測量による測定精度向上、ターゲットの使用数減少、区別性のあるターゲットを用いることなく、撮影時間短縮、さらには撮影した画像の各ターゲットの同定を容易にするトンネル坑内の形状測定システム及び形状測定方法を提供する。【解決手段】 トンネル1坑内の周方向と坑道3とに配設される複数のターゲット部材2a、2bと、ターゲットを含むようにトンネル1坑内を撮影するための撮影手段5と、撮影された画像を用いてトンネル形状を測定するための形状測定手段6とを含み、形状測定手段6は、連結部材4により連結された複数のターゲット部材2bに設けられるターゲット間の間隔をスケールとして用いてトンネル1坑内の形状を測定することを特徴とするトンネル坑内の形状測定システム及びトンネル形状測定方法を用いる。
Claim (excerpt):
トンネル坑内の周方向と、前記トンネル坑内の坑道とに配設される複数のターゲット部材と、前記ターゲット部材に設けられるターゲットを含むように前記トンネル坑内を撮影するための撮影手段と、前記撮影手段により撮影された前記ターゲットの像を含む画像を用いてトンネル形状を測定するための形状測定手段とを含み、前記坑道に配設される複数のターゲット部材は、所定間隔となるように連結部材により互いに連結され、前記周方向に配設される複数のターゲット部材により形成されるトンネル断面に対しトンネル軸方向に向けて該トンネル断面の前方側または後方側となるように配置され、前記形状測定手段は、前記連結部材により連結された前記複数のターゲット部材に設けられる前記ターゲット間の間隔をスケールとして用いて前記トンネル坑内の形状を測定することを特徴とする、トンネル坑内の形状測定システム。
IPC (4):
G01C 7/06
, E21D 9/00
, G01C 15/00 101
, G01C 15/06
FI (4):
G01C 7/06
, E21D 9/00 Z
, G01C 15/00 101
, G01C 15/06 T
Patent cited by the Patent: