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J-GLOBAL ID：200903047596086324

物体検出装置

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Inventor： 水野和貴 ,  家守誠之
Applicant, Patent owner： 東洋電機株式会社
Agent (1)： 辻 実
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992271074
Publication number (International publication number)：1994094834
Application date： Sep. 14, 1992
Publication date： Apr. 08, 1994
Summary：

【要約】【目的】構造が簡単で気体の汚染状況や雰囲気温度に左右されずに被検知物体迄の正確な距離測定ができ、その物体を正確に検知できるような物体検出装置を提供すること。【構成・効果】基本波により変調された光を発する発光素子からの光を所定時間被検知物体に放射し反射してきた光を受光素子で受け、次の一定時間で基本波により変調された光を発する別の発光素子からの光を該受光素子で受ける。続いて基本波と発射光との間の位相差を測定し、また基本波と受光した反射光との位相差を測定し、これら2つの位相差を差し引きして被検知物体と物体検出装置間の距離を算出して、被検知物体が所定距離接近した時検知信号を発する。なお、基本波と受光素子で受光された信号とを同一の局部発振周波数をもつ混合器でヘテロダイン検波を行なってから上記の位相差比較を行ってもよい。本発明は、測距の精度は雰囲気により左右されない、基本波の周波数を変えれば接近して複数台併設できる、構造簡単で安価な物体検出装置を提供できる等の効果を得る。

Claim (excerpt)：

発光体から発する光と該発光体から発する光が放射され被測定体から反射して回帰する光との比較から被測定体までの距離を検出する物体検出装置において、距離測定の基準となる信号を発生する基準信号発生手段と、該基準信号発生手段から発生する信号により発光光が変調され基準位置に配設された第1の発光手段と、該基準信号発生手段から発生する信号により発光光が変調され該発光光を被測定体方向に放射するとともに基準位置に配設された第2の発光手段と、これら第1と第2の発光手段とを交互に切替発光させる切換手段と、該第1と第2の発光手段からの発光光を受光するとともに基準位置に配設された受光手段と、上記基準信号発生手段から発生する信号の位相と該受光手段にて受光した光から得られる復調信号の位相とを比較する位相比較手段と、基準信号と第1の発光手段の発光光から得られる復調信号の位相差と、基準信号と第2の発光手段の発光光から得られる復調信号の位相差とを比較して基準位置から被測定体までの距離を演算する演算手段とを具備することを特徴とする物体検出装置。

IPC (2)：

G01S 17/36 ,  G01C 3/06

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平1-304380
  
• 特開平3-189584
  
• 特開昭61-218978