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J-GLOBAL ID:200903048027753459

風洞試験装置及び風洞試験装置を用いた光学計測方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 藤田 考晴 ,  上田 邦生
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004234541
Publication number (International publication number):2006053029
Application date: Aug. 11, 2004
Publication date: Feb. 23, 2006
Summary:
【課題】感圧塗料による光学計測に適した光学計測用の窓を備えている風洞試験装置を提供すること。【解決手段】多溝壁22により形成した風路21を備えている風洞試験装置は、遷音速測定カート20の風路21が多溝壁22の溝間に分割して設けた複数の光学計測用の光学窓32を備えている。【選択図】図1
Claim (excerpt):
多溝壁により形成した風路を備えている風洞試験装置において、 前記風路が前記多溝壁の溝間に分割して設けた複数の光学計測用の窓を備えていることを特徴とする風洞試験装置。
IPC (1):
G01M 9/04
FI (1):
G01M9/04
F-Term (3):
2G023AA01 ,  2G023AB25 ,  2G023AC01
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
  • 風 洞
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平5-127779   Applicant:ヨーロピアントランソニックウインドトンネルジーエムビーエイチ
Cited by examiner (9)
  • 特表平3-500820
  • 光学的圧力場計測装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平11-161411   Applicant:三菱重工業株式会社
  • 遷音速フラッタ停止装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2002-275527   Applicant:独立行政法人航空宇宙技術研究所
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