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J-GLOBAL ID：200903048358275220

距離測定装置、距離測定方法、及び距離測定プログラム

Inventor：
青山 千秋

About 青山 千秋


Applicant, Patent owner：
本田技研工業株式会社

About 本田技研工業株式会社


Agent (1)： 磯野 道造
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003139777
Publication number (International publication number)：2004340840
Application date： May. 19, 2003
Publication date： Dec. 02, 2004
Summary：
【課題】対象物までの距離を少ない処理で正確に求めることを目的とする。【解決手段】各カメラCR,CLで撮像した撮像画像を、各カメラCR,CLの光学系の特性に合わせて歪を補正して補正画像を生成する。そして、画素位置検出手段40で、補正画像における対象物の画素位置を求める。次に、補正画像の座標系における各画素位置又はこの各画素位置と所定の関係にある情報と、その画素位置に入射した入射光線の方向及び位置を特定する情報と、を関連づけた較正テーブル32R,32Lを参照して入射光線の方向及び位置を取得し、この入射光線の方向及び位置から対象物OBまでの距離を計算する。【選択図】 図 1
Claim (excerpt)：
複数のカメラで撮影した撮像画像から、対象物までの距離を測定する距離測定装置であって、 複数の並設されたカメラと、 前記各カメラの光学系の特性に合わせて、前記撮像画像の歪を補正して補正画像を生成する歪補正実行手段と、 前記補正画像の座標系における各画素位置又はこの各画素位置と所定の関係にある情報と、その画素位置に入射した入射光線の方向及び位置を特定する情報と、を関連づけた較正情報を蓄積した較正情報蓄積手段と、 前記補正画像における対象物の画素位置を求める画素位置検出手段と、 前記較正情報を参照して各補正画像における対象物の画素位置に入射した入射光線の方向及び位置を取得し、この入射光線の方向及び位置から前記対象物までの距離を算出する距離算出手段とを備えたことを特徴とする距離測定装置。
IPC (2)：
G01C3/06 ,  G01B11/00
FI (2)：
G01C3/06 V ,  G01B11/00 H
F-Term (16)：
2F065AA02 ,  2F065AA06 ,  2F065EE08 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ18 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ38 ,  2F065QQ42 ,  2F112AC06 ,  2F112BA06 ,  2F112CA12 ,  2F112FA03 ,  2F112FA45 ,  2F112FA50
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (5)
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Cited by examiner (5)
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