質量分析計用インターフェイスおよび質量分析システム

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：奥山尚男 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999290638
Publication number (International publication number)：2001108656
Application date： Oct. 13, 1999
Publication date： Apr. 20, 2001
Summary：

【要約】【課題】水溶液中の非極性分子であるダイオキシン類やPCB等の検出も可能になると同時に、分析システム全体で、短時間に極めて効率的かつ有効に種々の化合物を分析できる装置を提供する。【解決手段】霧化器によって噴霧された試料を高効率イオン化手段を介して質量分析計に導入するインターフェイスであって、該高効率イオン化手段としてマイクロ波共振器を有し、発生させた霧化器後流のマイクロ波プラズマに該試料を通過させる質量分析用インターフェイス、並びに、該高効率イオン化手段としてヒーターおよび熱電子衝撃イオン化源を有し、該熱電子衝撃イオン化源が差動排気中もしくは差動排気の後流に設けられている質量分析用インターフェイス。

Claim (excerpt)：

霧化器によって噴霧された試料を高効率イオン化手段を介して質量分析計に導入するインターフェイスであって、該高効率イオン化手段としてマイクロ波共振器を有し、発生させた霧化器後流のマイクロ波プラズマに該試料を通過させることを特徴とする質量分析用インターフェイス。

IPC (4)：

G01N 27/62 , G01N 27/447 , G01N 30/72 , H01J 49/04

FI (4)：

G01N 27/62 X , G01N 30/72 G , H01J 49/04 , G01N 27/26 331 J

F-Term (7)：

5C038EE02 , 5C038EF04 , 5C038EF26 , 5C038GG01 , 5C038GG09 , 5C038GH05 , 5C038GH08

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

質量分析計
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-054768 Applicant：株式会社日立製作所
質量分析装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-105780 Applicant：株式会社日立製作所
液体クロマトグラフィー/質量分析計装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-022129 Applicant：ヒューレット・パッカード・カンパニー

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