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J-GLOBAL ID:200903048953005814
半導体装置およびその製造方法
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
小鍜治 明 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1995016831
Publication number (International publication number):1996213425
Application date: Feb. 03, 1995
Publication date: Aug. 20, 1996
Summary:
【要約】【目的】 バンプにより半導体素子を回路基板配線に直接接続する実装構造を提供する。【構成】 第1のバンプ8がその電極パッド2上に設けられた半導体チップ1と、前記半導体チップ1上の第1のバンプ8に接合した第2のバンプ9がその基板配線6上に設けられた配線回路基板5と、半導体チップ1と配線回路基板5との間隙を充填した封止樹脂7とでなり、半導体チップ1と配線回路基板5との間には第1、第2のバンプ8,9が互いに当接して接合してハイバンプ10が設けられている。この構造により、接着剤不要で半導体チップ1を配線回路基板に接合でき、また熱応力に対応できる半導体素子1と配線回路基板6との接続構造を実現できる。
Claim (excerpt):
第1の突起電極がその電極パッド上に設けられた半導体素子と、前記半導体素子上の第1の突起電極に接合した第2の突起電極がその基板配線上に設けられた配線回路基板と、前記半導体素子と前記配線回路基板との間隙を充填した封止樹脂とよりなる半導体装置であって、前記半導体素子と配線回路基板との間には前記第1の突起電極と前記第2の突起電極とが互いに当接して接合して高背バンプが設けられていることを特徴とする半導体装置。
IPC (3):
H01L 21/60 311
, H01L 21/56
, H01L 21/603
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (10)
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特開平4-225542
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特開平2-206125
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特開昭62-117346
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半導体装置の実装方法およびその実装構造
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-231060
Applicant:シチズン時計株式会社
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特開平2-163950
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特開平4-151843
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フリップチップ実装方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-034929
Applicant:富士通株式会社
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半導体装置の製造方法と半導体装置及び電子回路装置の製造方法と電子回路装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-168385
Applicant:富士通株式会社
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フェイスダウンボンディング方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-223682
Applicant:太陽誘電株式会社
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電子部品の実装方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-024074
Applicant:三菱電機株式会社
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