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J-GLOBAL ID:200903048996243760
ダイオキシン類分析装置及び燃焼制御システム
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
光石 俊郎 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999303438
Publication number (International publication number):2001124739
Application date: Oct. 26, 1999
Publication date: May. 11, 2001
Summary:
【要約】【課題】 焼却炉等から排出される排ガス中のダイオキシン類をリアルタイムで直接分析するダイオキシン類分析装置及び炉内燃焼制御システムを提供する。【解決手段】 焼却炉等から排出されるダイオキシン類を含む燃焼ガス10を炉内の煙道11から直接採取する先端にフィルタ12を備えた採取管13からなる採取手段14と、ダイオキシン類を含む採取ガス15を超音速ジェット流16を形成するパルスバルブを有するノズル17を用いて真空チャンバ18中に噴出する噴出手段19と、噴出されたジェット流16中にスペクトル幅の広いレーザ光20を照射し、共鳴増感イオン化過程にてダイオキシン類の同族体の分子イオン21を形成するレーザ照射手段22と、生成した分子イオン21のダイオキシン類の分析を行うイオン検出器23を備えた飛行時間型質量分析装置24とを備え、燃焼ガス11中のダイオキシン類の同族体を直接分析するようにした。
Claim (excerpt):
焼却炉,熱分解炉,溶融炉等から排出される排ガス中のダイオキシン類を含む燃焼ガスを直接採取する採取手段と、該ダイオキシン類を含む採取ガスを超音速ジェット流を形成するパルスバルブを有するノズルを用いて真空チャンバ中に噴出する噴出手段と、該噴出された超音速ジェット流中にスペクトル幅の広いレーザ光を照射し、共鳴増感イオン化過程にてダイオキシン類の同族体の分子イオンを形成するレーザ照射手段と、生成した分子イオンのダイオキシン類の分析を行う飛行時間型質量分析装置とを備えてなり、燃焼ガス中のダイオキシン類の同族体を直接分析することを特徴とするダイオキシン類分析装置。
IPC (10):
G01N 27/62 ZAB
, G01N 27/62
, F23G 5/44 ZAB
, F23G 5/50 ZAB
, G01N 1/00 101
, G01N 1/00
, G01N 1/22
, G01N 27/64
, G01N 31/00
, G01N 33/00
FI (10):
G01N 27/62 ZAB V
, G01N 27/62 K
, F23G 5/44 ZAB Z
, F23G 5/50 ZAB N
, G01N 1/00 101 W
, G01N 1/00 101 S
, G01N 1/22 D
, G01N 27/64 B
, G01N 31/00 V
, G01N 33/00 D
F-Term (30):
2G042AA01
, 2G042BD02
, 2G042CA01
, 2G042CB01
, 2G042DA04
, 3K062AA01
, 3K062AA11
, 3K062AA24
, 3K062AB01
, 3K062AB02
, 3K062AB03
, 3K062AC01
, 3K062BA02
, 3K062CB06
, 3K062CB08
, 3K062DA21
, 3K062DB06
, 3K062DB08
, 3K062DB13
, 3K062DB27
, 3K062DB30
, 3K065AA11
, 3K065AA24
, 3K065AB01
, 3K065AB02
, 3K065AB03
, 3K065AC01
, 3K065BA02
, 3K065BA06
, 3K065HA01
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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