質量分析方法及び質量分析システム

Inventor： , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：小川勝男 , 田中恭助
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004248169
Publication number (International publication number)：2006064562
Application date： Aug. 27, 2004
Publication date： Mar. 09, 2006
Summary：

【課題】クロマトグラフィー装置により分離された試料をタンデム質量分析するシステムにおいて、高効率・高スループットにタンデム分析を可能とする質量分析システムを提供すること。【解決手段】質量分析装置に対し並列関係に配置された複数のクロマトグラフィー装置を所定の時間差をおいて溶出開始し、後続の質量分析装置により質量分析する方法であって先発のクロマトグラフィー装置におけるクロマトグラムを実時間解析し、上記解析結果を後発のクロマトグラフィー装置の溶出条件の変更に実時間で使用する質量分析方法、及びそれを実施するのに適した質量分析装置システム。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

質量分析装置に対し並列関係に配置された複数のクロマトグラフィー装置をある時間差を置いて溶出開始し、溶出された試料を後続の質量分析装置により質量分析する方法であって、先発のクロマトグラフィー装置によって得られたクロマトグラムデータを実時間解析し、上記先発のクロマトグラフィー装置の実時間解析結果を用いて、後発のクロマトグラフィー装置から溶出された試料を質量分析する際の質量分析条件及び/又は質量分析内容の変更を実時間で行うことを特徴とする質量分析方法。

IPC (6)：

G01N 27/62 , G01N 30/24 , G01N 30/46 , G01N 30/72 , G01N 30/86 , G01N 30/88

FI (9)：

G01N27/62 C , G01N27/62 X , G01N30/24 A , G01N30/46 G , G01N30/72 A , G01N30/72 C , G01N30/86 G , G01N30/86 R , G01N30/88 E

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

液体クロマトグラフおよびそれを用いた分析方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-364289 Applicant：株式会社日立製作所

Cited by examiner (4)

クロマトグラフ装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-208063 Applicant：株式会社日立製作所, 日立計測エンジニアリング株式会社
液体クロマトグラフ質量分析計
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-385160 Applicant：株式会社島津製作所
特開昭64-072057

Show all

Return to Previous Page