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J-GLOBAL ID:200903050807578866

3族窒化物半導体基板及び素子の製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 藤谷 修
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996150270
Publication number (International publication number):1997312417
Application date: May. 21, 1996
Publication date: Dec. 02, 1997
Summary:
【要約】【課題】結晶性の良い3族窒化物半導体基板を得ること及び3族窒化物半導体素子の特性を改良すること。【解決手段】サファイア基板1の表面に0.05μmのAlN バッファ層20、膜厚約100 μm、電子濃度2 ×1018/cm3のGaN 層200、サファイア基板1の裏面に0.05μmのAlN バッファ層30、膜厚約100 μm、電子濃度2 ×1018/cm3のGaN 層300を形成する。その後、GaN 層300、バッファ層30、サファイア基板1、バッファ層20を機械研磨により除去して、GaN 基板200を得る。このGaN基板200に、3族窒化物半導体を積層して、発光ダイオードを得る。GaN の単結晶基板が得られるために、高い特性の素子を得ることができる。
Claim (excerpt):
半導体または絶縁体からなる基板の両面に、それぞれ少なくとも1層の3族窒化物半導体(AlxGaYIn1-X-YN; 0≦X ≦1, 0≦Y ≦1, 0≦X+Y ≦1)を有する半導体層を形成する第1の工程と、基板および基板の一方の側に形成した半導体層を機械的に除去して、3族窒化物半導体(AlxGaYIn1-X-YN; 0≦X ≦1, 0≦Y ≦1, 0≦X+Y ≦1)からなる半導体基板を得る第2の工程とを有することを特徴とする3族窒化物半導体基板の製造方法。
IPC (2):
H01L 33/00 ,  H01L 27/12
FI (2):
H01L 33/00 C ,  H01L 27/12 S
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (8)
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Cited by examiner (8)
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