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J-GLOBAL ID:200903050832981705
比熱容量測定方法及び装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005249642
Publication number (International publication number):2006329969
Application date: Aug. 30, 2005
Publication date: Dec. 07, 2006
Summary:
【課題】 パルス通電加熱法を利用した導電性物質の比熱容量の測定に際して、試料の温度分布と熱伝導損失を考慮することにより正確な比熱容量の測定を可能にする。【解決手段】 導電性試料にパルス電流を流して加熱し、前記通電加熱された試料の温度を計測することにより試料の比熱容量を測定する方法において、下記の式により比熱容量を計算する。また、パルス通電加熱した後の冷却時においても小電流を試料に流すことにより、冷却時における試料の平均電気抵抗率を測定し、昇温時と降温時の試料全体の平均温度が一致する時間を平均電気抵抗率が一致する時間と見なすことにより特定し、下記の式により比熱容量を計算する。 【数8】【選択図】図1
Claim (excerpt):
導電性試料にパルス電流を流して直接通電加熱し、前記通電加熱された試料の温度を計測することにより試料の比熱容量を測定する方法において、下記の式により比熱容量を計算することを特徴とする比熱容量測定方法。
IPC (1):
FI (1):
F-Term (8):
2G040AA00
, 2G040AB05
, 2G040AB12
, 2G040BA25
, 2G040CA01
, 2G040DA05
, 2G040EA01
, 2G040HA02
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (8)
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特開平3-237346号公報
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レーザフラッシュ法を用いた熱定数の測定方法及びその装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-094291
Applicant:株式会社超高温材料研究所, 財団法人山口県産業技術開発機構
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半球面鏡式比熱容量測定法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-352900
Applicant:工業技術院長
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熱物性測定方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-056747
Applicant:独立行政法人産業技術総合研究所
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半導体装置テストエレメントの製造方法及びその薄膜物性値測定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-199923
Applicant:株式会社日立製作所
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特開平2-035346
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特開平3-225268
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特開平3-237346
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