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J-GLOBAL ID：200903052583737060

ファイバブラッググレーティング物理量計測装置

Inventor：
新井 良一

About 新井 良一

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隅田 晃生

About 隅田 晃生

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小野寺 徹

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前川 立行

About 前川 立行

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波平 英夫

About 波平 英夫


Applicant, Patent owner：
株式会社東芝

About 株式会社東芝


Agent (2)： 猪股 祥晃 ,  猪股 弘子
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004131528
Publication number (International publication number)：2005315635
Application date： Apr. 27, 2004
Publication date： Nov. 10, 2005
Summary：
【課題】周囲温度の変化の影響が少なく、精度と信頼性が高く、短時間で多点における物理量計測を行うことのできるファイバブラッググレーティング物理量計測装置を提供する。【解決手段】予めファイバブラッググレーティングセンサ4の接続位置から決まるパルス光の反射時間情報を記憶し、その情報をもとに前記ファイバブラッググレーティングセンサ4の反射光パルス列信号をA/D変換するためのタイミング信号を送出する信号処理制御装置10と、前記信号処理制御装置10のタイミング信号により前記ファイバブラッググレーティングセンサ4の反射光パルス列信号の中から1つ以上のパルス信号毎にデジタル化するA/D変換装置12と、複数回の入射パルス光に対する前記A/D変換装置12の出力データを処理し、反射光パルス列信号データを用いて物理量を算出する信号演算処理装置9とを設ける。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
波長帯域に広がりのある光を発生する広帯域光源と、前記広帯域光源から所定の波長帯の帯域光を選択的に抽出する波長可変フィルタと、前記帯域光から光パルスを生成する光パルス化装置と、物理量計測対象に設けられた光ファイバを介して前記光パルス化装置に接続されたファイバブラッググレーティングセンサとを備え、時分割多重方式で多数点の物理量を計測するファイバブラッググレーティング物理量計測装置において、予め前記ファイバブラッググレーティングセンサの接続位置から決まるパルス光の反射時間情報を記憶し、その情報をもとに前記ファイバブラッググレーティングセンサの反射光パルス列信号をA/D変換するためのタイミング信号を送出する信号処理制御装置と、前記信号処理制御装置の前記タイミング信号により前記ファイバブラッググレーティングセンサの前記反射光パルス列信号の中から1つ以上のパルス信号毎にデジタル化するA/D変換装置と、複数回の入射パルス光に対する前記A/D変換装置の出力データを処理し、前記反射光パルス列信号データを用いて物理量を算出する信号演算処理装置とからなることを特徴とするファイバブラッググレーティング物理量計測装置。
IPC (3)：
G01K11/12 ,  G01B11/16 ,  G01K15/00
FI (3)：
G01K11/12 F ,  G01B11/16 G ,  G01K15/00
F-Term (19)：
2F056VF02 ,  2F056VF11 ,  2F065AA65 ,  2F065DD06 ,  2F065FF44 ,  2F065FF48 ,  2F065GG21 ,  2F065JJ01 ,  2F065KK02 ,  2F065LL02 ,  2F065LL23 ,  2F065LL42 ,  2F065NN06 ,  2F065PP22 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ14 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ29 ,  2F065UU04
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1) Cited by examiner (9)
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