Pat
J-GLOBAL ID:200903053042660045
接着部材とその製造方法、該接着部材を備えた半導体搭載用配線基板及びこれを用いた半導体装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
穂高 哲夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001013336
Publication number (International publication number):2002212536
Application date: Jan. 22, 2001
Publication date: Jul. 31, 2002
Summary:
【要約】【課題】 配線基板に半導体チップを搭載するための接着部材において、多層構造よりなる接着部材で剛性のある基材の両面に接着剤を有する接着部材を用いることで、接着部材の剛性を確保し、基板に接着部材を貼り付けた際の反り防止を可能とできる接着部材及びその製造方法を提供する。【解決手段】 多層構造よりなる接着部材で、剛性のある基材Aの両面に熱硬化性樹脂成分より成る接着剤層B及び接着剤層Cを有する接着部材であり、基材Aの厚みと接着剤層B及びCの総厚みの比率を(B+C)/A=0.5〜6.0の範囲とした接着部材。
Claim (excerpt):
多層構造よりなる接着部材で、剛性のある基材Aの両面に熱硬化性樹脂成分より成る接着剤層B及び接着剤層Cを有する接着部材であり、基材Aの厚みと接着剤層B及びCの総厚みの比率を(B+C)/A=0.5〜6.0の範囲としたことを特徴とする接着部材。
IPC (8):
C09J201/00
, B32B 7/12
, B32B 27/38
, C09J 7/02
, C09J163/00
, C09J171/10
, H01L 21/52
, H01L 23/14
FI (8):
C09J201/00
, B32B 7/12
, B32B 27/38
, C09J 7/02 Z
, C09J163/00
, C09J171/10
, H01L 21/52 E
, H01L 23/14 R
F-Term (84):
4F100AK01B
, 4F100AK01C
, 4F100AK25B
, 4F100AK25C
, 4F100AK25G
, 4F100AK33
, 4F100AK49
, 4F100AK53B
, 4F100AK53C
, 4F100AK53G
, 4F100AK54B
, 4F100AK54C
, 4F100AK54G
, 4F100AL05B
, 4F100AL05C
, 4F100AL05G
, 4F100AL06B
, 4F100AL06C
, 4F100AL06G
, 4F100AT00A
, 4F100BA03
, 4F100BA06
, 4F100BA07
, 4F100CA02
, 4F100CA02B
, 4F100CA02C
, 4F100CA02G
, 4F100CB02B
, 4F100CB02C
, 4F100CB02G
, 4F100GB41
, 4F100JB13B
, 4F100JB13C
, 4F100JK01A
, 4F100JL04
, 4F100JL11
, 4F100JL11B
, 4F100JL11C
, 4F100YY00B
, 4F100YY00C
, 4F100YY00G
, 4J004AA10
, 4J004AA11
, 4J004AA13
, 4J004AA17
, 4J004AA18
, 4J004AB05
, 4J004CA06
, 4J004CC02
, 4J004EA05
, 4J004FA05
, 4J040EB022
, 4J040EC061
, 4J040EC062
, 4J040EC071
, 4J040EC072
, 4J040EC151
, 4J040EC231
, 4J040EC232
, 4J040EE062
, 4J040EG002
, 4J040HA136
, 4J040HA326
, 4J040HB22
, 4J040HB40
, 4J040HC01
, 4J040HC14
, 4J040HC24
, 4J040HD30
, 4J040JB02
, 4J040KA16
, 4J040KA17
, 4J040KA36
, 4J040KA42
, 4J040LA01
, 4J040MA04
, 4J040MA10
, 4J040MB03
, 4J040NA20
, 4J040PA23
, 4J040PA30
, 5F047AA17
, 5F047BA34
, 5F047BB03
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
Show all
Return to Previous Page