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J-GLOBAL ID：200903053997620897

昇温脱離分析装置とその方法

Inventor：
有井 忠

About 有井 忠

, 
桑原 勝男

About 桑原 勝男

, 
田中 宣弘

About 田中 宣弘


Applicant, Patent owner：
株式会社リガク

About 株式会社リガク


Agent (1)： 山本 寿武
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003315993
Publication number (International publication number)：2005083887
Application date： Sep. 08, 2003
Publication date： Mar. 31, 2005
Summary：
【課題】 測定中に試料周辺の構成部から脱離するバックグラウンド成分を低減し、高感度で再現性のある昇温脱離分析を実現する。【解決手段】 試料Sを配置する試料配置部1と、この試料配置部1の周囲に設けられ当該試料配置部1を密閉する開閉自在な保護管2と、この保護管2の外周に一定の隙間を設けて配設され試料を周囲から加熱する赤外線加熱炉3と、試料配置部1と連通し加熱により試料から脱離したガスが導入される検出部4と、この検出部4に導入されてきた脱離ガスを検出する質量分析計5とを備えた昇温脱離分析装置において、保護管2の外周面を加熱または冷却するためのファン20を設け、昇温脱離分析を開始する前に保護管2の外周面を加熱するとともに、昇温脱離分析を実行中は保護管2の外周面を冷却する構成とした。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
試料を配置する試料配置部と、この試料配置部の周囲に設けられ当該試料配置部を密閉する開閉自在な保護管と、この保護管の外周に一定の隙間を設けて配設され試料を周囲から加熱する加熱手段と、前記試料配置部と連通し加熱により試料から脱離したガスが導入される検出部と、この検出部に導入されてきた脱離ガスを検出する検出手段とを備えた昇温脱離分析装置において、 前記加熱手段とは別に、前記保護管の外周面を加熱する保護管加熱手段を設けたことを特徴とする昇温脱離分析装置。
IPC (2)：
G01N25/20 ,  G01N25/00
FI (2)：
G01N25/20 A ,  G01N25/00 K
F-Term (9)：
2G040AA02 ,  2G040BA25 ,  2G040BB01 ,  2G040CA02 ,  2G040EA06 ,  2G040EB02 ,  2G040EC08 ,  2G040FA07 ,  2G040ZA01
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1) Cited by examiner (2)
  • 熱分析装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-043059   Applicant：セイコー電子工業株式会社, ジーエルサイエンス株式会社
  • 質量分析装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-054119   Applicant：株式会社東芝

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