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J-GLOBAL ID：200903056468361800

質量分析方法および装置

Inventor：
永井 伸治

About 永井 伸治


Applicant, Patent owner：
株式会社日立製作所

About 株式会社日立製作所


Agent (1)： 高田 幸彦 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000398185
Publication number (International publication number)：2001249114
Application date： Dec. 27, 2000
Publication date： Sep. 14, 2001
Summary：
【要約】【課題】MS2分析で得られるマススペクトルデータを利用した、よりスムーズ且つ正確な目的試料成分の検索-特定を行なう。クロマトグラフ装置から導入された試料をイオン化し、イオンを捕捉可能なイオントラップにより質量分析を行う質量分析装置において、成分毎のマススペクトルデータ(MS1データ)と当該マススペクトルデータ内の特徴ピークに対するMS2分析に基づくマススペクトルデータ(MS2データ)を格納した標準データベースを備えたものであり、当該標準データベース中のMS2データに対して、測定対象試料をMS2分析して得られたマススペクトルとの比較を行う。【解決手段】大気圧イオン化法を用いるLC/MSのようなMS1分析のマススペクトルから得られる情報が少ない装置においても、正確且つ迅速に、成分の特定を行うことが可能となる。
Claim (excerpt)：
成分毎に、MS1分析のマススペクトルデータ(MS1データ)とMS2分析のマススペクトルデータ(MS2データ)を格納した標準データベースを備え、クロマトグラフ装置から導入された試料をイオン化し、イオンを捕捉可能なイオントラップにより質量分析を行う質量分析計を用いた質量分析方法であって、分析条件を設定するステップと、イオン化された試料をMS1分析とMS2分析を行いながらマススペクトルを得るステップと、前記標準データベースから、前記分析条件で設定された条件に合う成分のMS1及びMS2データを抽出するステップと、前記MS2分析によって得られたマススペクトルと前記抽出された成分のMS2データとを比較するステップとを有することを特徴とする質量分析方法。
IPC (3)：
G01N 27/62 ,  G01N 30/72 ,  H01J 49/42
FI (6)：
G01N 27/62 X ,  G01N 27/62 D ,  G01N 27/62 L ,  G01N 30/72 A ,  G01N 30/72 C ,  H01J 49/42
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3) Cited by examiner (3)

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