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J-GLOBAL ID：200903059606525168

質量分析法のイオン化効率の増大方法

Inventor： シュナイダー、 ルーク ヴィー.
Applicant, Patent owner： ターゲット・ディスカバリー・インコーポレイテッド
Agent (2)： 三好 秀和 ,  伊藤 正和
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2004570238
Publication number (International publication number)：2006507509
Application date： Oct. 28, 2003
Publication date： Mar. 02, 2006
Summary：

エレクトロスプレー微細液滴または固体サンプルマトリクスをイオンビームにあてて、検体の不平衡電荷を増大させる質量分析法のためのイオン化方法を提供する。他の実施例によると、検体を含む液体または固体のサンプルマトリクスにイオンビームをあてて、検体をイオン化して不平衡電荷を添加する、質量分析法のイオン化方法を提供する。

Claim (excerpt)：

溶媒及び検体を含むエレクトロスプレー微細液滴をエレクトロスプレーノズルから供給し、 エレクトロスプレー微細液滴をイオンビームに暴露しこのエレクトロスプレー微細液滴の不平衡電荷を増大させる、 質量分析法のためのイオン化方法。

IPC (2)：

G01N 27/62 ,  G01N 27/64

FI (4)：

G01N27/62 G ,  G01N27/62 F ,  G01N27/62 V ,  G01N27/64 C

F-Term (10)：

2G041CA01 ,  2G041DA05 ,  2G041DA09 ,  2G041DA11 ,  2G041EA01 ,  2G041EA03 ,  2G041FA10 ,  2G041GA06 ,  2G041GA20 ,  2G041GA25

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (7)

• 特開昭60-194338
  
• 特開平2-199761
  
• 質量分析計用イオン源
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-007341   Applicant：株式会社日立製作所, 日立計測エンジニアリング株式会社
• ヘリウム液滴式質量分析法(HDMS)
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-313733   Applicant：ファイザー・プロダクツ・インク
• ハロゲン化化合物の質量分析方法および質量分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-356725   Applicant：アネルバ株式会社
• 排ガスモニタを備えたプラズマ装置およびその動作方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-198474   Applicant：松下電子工業株式会社
• 有毒なハロゲン化物の検出および監視
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-261664   Applicant：エクソン・リサーチ・アンド・エンジニアリング・カンパニー

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• “Atmospheric Pressure Chemical Ionization Interface for Capillary Electrophoresis/Mass Spectrometry