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J-GLOBAL ID:200903059728160080
信号測定分析装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (2):
三好 秀和
, 勝 治人
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2006028978
Publication number (International publication number):2007206037
Application date: Feb. 06, 2006
Publication date: Aug. 16, 2007
Summary:
【課題】複数の波形データを効率的に記憶して分析するとともに、記憶した波形データの特性や類似性を分析して表示することで、電磁環境や騒音環境を把握することができる信号測定分析装置を提供する。【解決手段】検出した信号を出力するセンサ31と接続され、センサ31から入力した信号の時間波形又は周波数スペクトルの少なくとも一方を波形を表す波形データとして測定して、データ記憶部12に記憶させるデータ測定部11と、波形データを読み出して、波形データの特徴量である波形パラメータを検出し、波形パラメータを含むレコードを生成してデータベース15に蓄積する検出部14と、データベース15に蓄積された複数のレコードに含まれる波形パラメータと入力装置から入力された分析条件とに基づいて波形を分析する分析部15と、分析の結果を表示装置19に表示させる表示制御部18とを具備する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
検出した信号を出力するセンサと接続され、当該センサから入力した前記信号の時間波形又は周波数スペクトルの少なくとも一方を測定するデータ測定部と、
前記データ測定部において測定した前記信号を波形データとして記憶するデータ記憶部と、
前記データ記憶部から前記波形データを読み出して、当該波形データから前記波形データの特徴量である波形パラメータを検出し、当該波形パラメータを含むレコード生成する検出部と、
前記波形パラメータを含むレコードを記憶するデータベース部と、
前記データベース部から蓄積されたレコードを読み出して、前記データベース部に蓄積された1つ以上の波形パラメータと、任意に指定した分析条件とに基づいて波形データを分析する分析部と、
前記分析部における分析の結果を表示する表示部と、
を具備することを特徴とする信号測定分析装置。
IPC (1):
FI (1):
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (6)
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特開平4-178548号公報
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特開平4-294285号公報
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電磁環境計測器
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-023033
Applicant:日本電信電話株式会社
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波形測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平2-409497
Applicant:横河電機株式会社
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デジタル化装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-276580
Applicant:ソニー・テクトロニクス株式会社
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漸変断面トンネル用移動型枠装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-304642
Applicant:株式会社奥村組
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Cited by examiner (9)
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電磁妨害波測定分析システム及び電磁妨害波測定分析方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-182792
Applicant:日本電信電話株式会社
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電磁波測定方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-067675
Applicant:松下電器産業株式会社, 大阪瓦斯株式会社
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信号分析装置及び信号分析方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-063738
Applicant:株式会社東芝
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