複数カメラ校正用のマスター基板及び画像認識カメラの校正方法

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：村井隆
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999066084
Publication number (International publication number)：2000258121
Application date： Mar. 12, 1999
Publication date： Sep. 22, 2000
Summary：

【要約】【課題】画像処理印刷機等へ適用される複数カメラ校正用のマスター基板及び校正方法を得る。【解決手段】同一画像認識カメラ視野内に収まる二点以上の認識マーク21,22,23を有する認識マーク群30を、所定間隔の複数の画像認識カメラ視野に対応させて配置してなり、各認識マーク群内の前記二点以上の認識マーク相互の位置関係及び各認識マーク群相互の位置関係が既知であるマスター基板20を用い、各画像認識カメラで対応する認識マーク群30を撮像して、各認識マーク群内の前記二点以上の認識マーク21,22,23相互の既知の位置関係及び各認識マーク群相互の既知の位置関係から各画像認識カメラの分解能、座標系の傾き及び前記複数の画像認識カメラの相対位置関係を算出する。

Claim (excerpt)：

同一画像認識カメラ視野内に収まる二点以上の認識マークを有する認識マーク群を、所定間隔の複数の画像認識カメラ視野に対応させて配置してなり、各認識マーク群内の前記二点以上の認識マーク相互の位置関係及び各認識マーク群相互の位置関係が既知であることを特徴とする複数カメラ校正用のマスター基板。

IPC (2)：

G01B 11/00 , G03B 43/00

FI (2)：

G01B 11/00 H , G03B 43/00

F-Term (12)：

2F065AA03 , 2F065AA31 , 2F065BB28 , 2F065DD02 , 2F065DD19 , 2F065FF04 , 2F065FF61 , 2F065JJ03 , 2F065JJ05 , 2F065JJ19 , 2F065JJ26 , 2F065QQ31

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

画像計測装置の校正方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-195442 Applicant：住友電気工業株式会社, 東京電力株式会社
ステレオカメラ校正装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-222855 Applicant：株式会社明電舎
画像処理装置のキャリブレーションプレート、これを用いたキャリブレーション装置及び3次元位置計測装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-277229 Applicant：株式会社小松製作所

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