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J-GLOBAL ID：200903061720482678
質量分析法、及び質量分析装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (8)：
杉村 興作
, 高見 和明
, 徳永 博
, 岩佐 義幸
, 藤谷 史朗
, 来間 清志
, 冨田 和幸
, 阿相 順一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004057750
Publication number (International publication number)：2005249479
Application date： Mar. 02, 2004
Publication date： Sep. 15, 2005
Summary：
【課題】 極めて大きな分子量を有する分子などの微粒子の質量を計測することが可能な新規な質量分析法及び質量分析法を提供する。【解決手段】 空間中に磁場勾配を生成し、前記空間中に微粒子を飛翔させ、前記微粒子に対して前記磁場勾配に起因した磁気力を作用させる。次いで、前記微粒子の前記磁気力による速度及び加速度を計測しその速度及び加速度から前記微粒子の質量を計測する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
空間中に磁場勾配を生成する工程と、
前記空間中に微粒子を飛翔させ、前記微粒子に対して前記磁場勾配に起因した磁気力を作用させる工程と、
前記微粒子の前記磁気力による速度及び加速度を計測し、その速度及び加速度から前記微粒子の質量を計測する工程と、
を具えることを特徴とする、質量分析法。
IPC (2)：
FI (2)：
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)
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磁気泳動方式濃度検出方法及び装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2000-202689
Applicant：大阪大学長
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懸濁させた磁性微粒子の磁化率測定方法及び装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2000-261557
Applicant：大阪大学長
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