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J-GLOBAL ID:200903061777441064
薄膜の形成方法及びそれを用いた電子装置
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
小川 勝男
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1995099228
Publication number (International publication number):1996017726
Application date: Apr. 25, 1995
Publication date: Jan. 19, 1996
Summary:
【要約】 (修正有)【目的】基板上に形成した薄膜を短波長紫外線でパターン状に露光し、熱処理して露光部分を残すことにより簡単に微細パターンを形成する方法を提供する。【構成】基板上に式(1)や式(2)で示した有機金属化合物を重合したシリコンネットワークポリマ薄膜を形成し、次に該シリコンネットワークポリマ薄膜に350nmより短波長の紫外線をパターン状に照射し、次いでこの薄膜を200〜1000°Cに加熱処理すると、露光部分は耐熱性の高いSiO骨格が形成されるために熱処理後も残存し、非露光部は揮発して、エッチング処理無しで導電性(SiC),半導体性(a-Si),絶縁性(SiO2),光透過性(SiO2)等の機能を有する微細薄膜パターンを形成することができる。(但し、R1,R2,R3は炭素数10以下の脂肪族基,フッ素化脂肪族基,芳香族基からなりそれぞれが異なっても互いに同じでもよい。)
Claim (excerpt):
基板上にシリコンネットワークポリマ薄膜を形成した後、(イ)該シリコンネットワークポリマ薄膜に酸素の存在下で電磁波を照射する工程と、(ロ)該シリコンネットワークポリマ薄膜を酸素の存在下で200〜1000°Cに加熱処理する工程の少なくとも1つの工程を含むことを特徴とする薄膜の形成方法。
IPC (3):
H01L 21/027
, G03F 7/075 511
, G03F 7/36
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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