物質検出方法とその装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (1)：堀田実
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003345838
Publication number (International publication number)：2005114413
Application date： Oct. 03, 2003
Publication date： Apr. 28, 2005
Summary：

【課題】物品中に特定の物質が存在するか否かを画一的に検出することができ、さらに高速に検出することを可能とし、破壊できない物品に内包されている物質を確実に検出する。【解決手段】検出対象物に関する複数の対象物スペクトルを格納したデータベースと、光波と電波の境界付近に位置するテラヘルツ波を被検査物の所定部位に複数の異なる周波数で照射するテラヘルツ波照射手段と、該照射後の出力波を取得する出力波取得手段と、該出力波内に前記対象物スペクトルが含有されているかを判別する判別手段とを備えた。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

光波と電波の境界付近に位置するテラヘルツ波を被検査物の所定部位に複数の異なる周波数で照射し、該照射後の出力波内に該検出対象物に関する対象物スペクトルが含有されているかを判別する物質検出方法。

IPC (1)：

G01N21/35

FI (1)：

G01N21/35 Z

F-Term (21)：

2G059AA01 , 2G059AA05 , 2G059BB20 , 2G059CC12 , 2G059EE01 , 2G059EE02 , 2G059EE12 , 2G059GG01 , 2G059GG09 , 2G059HH01 , 2G059JJ01 , 2G059JJ11 , 2G059JJ12 , 2G059JJ13 , 2G059JJ22 , 2G059JJ30 , 2G059KK01 , 2G059MM01 , 2G059MM05 , 2G059MM10 , 2G059PP04

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

テラヘルツのイメージ化の方法と装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-027183 Applicant：エイ・ティ・アンド・ティ・アイピーエム・コーポレーション
物品の検査方法とその装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-242626 Applicant：ルーセントテクノロジーズインコーポレイテッド
サブテラヘルツ電磁波を用いた粉粒体中異物検査装置およびその検査方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-244160 Applicant：郵政省通信総合研究所長

Cited by examiner (7)

物品の検査方法とその装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-242626 Applicant：ルーセントテクノロジーズインコーポレイテッド
リング型共振器とその高速同調方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-293000 Applicant：理化学研究所
テラヘルツ波発生装置とその高速同調方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-187735 Applicant：理化学研究所

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Article cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

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