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J-GLOBAL ID:200903062820903391

分析装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 平木 祐輔
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2007165117
Publication number (International publication number):2009002839
Application date: Jun. 22, 2007
Publication date: Jan. 08, 2009
Summary:
【課題】微量の測定試料を多数同時に測定する。【解決手段】微量の測定試料106を電極107上に配置し,複数の測定試料106にまたがって媒体105を配置し,参照電極109の液絡部を媒体105に接触させ,電位計108を用いて,前記媒体105を介した単一の参照電極109と各電極107間の電位を測定する。【選択図】図1
Claim (excerpt):
複数の試料配置部が設けられた容器と, 前記複数の試料配置部にそれぞれ設置された複数の測定電極と, 前記複数の試料配置部に配置された複数の試料溶液の全てに接するように導入された媒体と, 内部液を収める内部液収容部を備え,前記媒体に接触するように配置された1つの参照電極と, 前記複数の測定電極と前記参照電極の間の電位差を測定する手段とを有し, 前記媒体は有機塩を含み水と非混和性の液体,もしくは水と非混和性の液状の有機塩であることを特徴とする分析装置。
IPC (2):
G01N 27/416 ,  G01N 27/414
FI (4):
G01N27/46 386G ,  G01N27/30 301R ,  G01N27/30 301U ,  G01N27/30 301K
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (14)
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