Pat
J-GLOBAL ID:200903064418067920
表面形状が変化するセンサ
Inventor:
,
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
山本 秀策
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001207128
Publication number (International publication number):2003021636
Application date: Jul. 06, 2001
Publication date: Jan. 24, 2003
Summary:
【要約】【課題】 溶液中の分析物を高密度に集積し、簡便かつ高感度で検出し得る方法、それに用いるデバイス、およびそれを備えた装置を提供する。【解決手段】 目的の分析物を基板上の少なくとも1つの領域に捕獲する工程、該分析物が捕獲された領域の幾何学的形状を改変する工程、および改変された幾何学的形状を検出し、それによって該分析物の存在を検出する工程を包含する分析物測定方法。上記幾何学的形状を改変する工程は、上記領域にエネルギーを与えることによって行われ、上記幾何学的形状を改変する工程は、基板に捕獲された分析物に特異的に結合する標識物質の存在下で行われ得る。この標識物質は、遮光物質、または光硬化性樹脂であり得、上記エネルギーは、可視光、紫外線光、赤外光、X線、および電子線からなる群から選択される。
Claim (excerpt):
目的の分析物を基板上の少なくとも1つの領域に捕獲する工程、該分析物が捕獲された領域の幾何学的形状を改変する工程、および改変された幾何学的形状を検出し、それによって該分析物の存在を検出する工程、を包含する、分析物測定方法。
IPC (10):
G01N 33/53
, C12M 1/00
, C12Q 1/68
, G01N 13/10
, G01N 13/16
, G01N 37/00 102
, C12N 15/09
, G01B 21/20
, G01N 33/543 525
, G01N 33/58
FI (10):
G01N 33/53 M
, C12M 1/00 A
, C12Q 1/68 A
, G01N 13/10 A
, G01N 13/16 A
, G01N 37/00 102
, G01B 21/20 F
, G01N 33/543 525 C
, G01N 33/58 A
, C12N 15/00 F
F-Term (24):
2F069AA61
, 2F069BB40
, 2F069HH30
, 2G045AA35
, 2G045DA13
, 2G045FA11
, 2G045FA16
, 2G045FB02
, 4B024AA11
, 4B024AA20
, 4B024CA01
, 4B024CA09
, 4B024HA14
, 4B024HA19
, 4B029AA07
, 4B029FA12
, 4B063QA01
, 4B063QA13
, 4B063QQ42
, 4B063QR32
, 4B063QR55
, 4B063QR84
, 4B063QS34
, 4B063QX01
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (5)
-
遺伝子解析方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-347513
Applicant:セイコーインスツルメンツ株式会社, 農林水産省食品総合研究所長
-
凸状領域を用いた分析方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-103948
Applicant:持田製薬株式会社
-
細胞粘着性制御材料及びその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-255627
Applicant:ソニー株式会社, 理化学研究所
-
パターン形成方法及び露光装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-143485
Applicant:株式会社ニコン, 杉村博之, 高井治
-
雰囲気制御探針走査型顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-056230
Applicant:株式会社島津製作所
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Cited by examiner (5)
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遺伝子解析方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-347513
Applicant:セイコーインスツルメンツ株式会社, 農林水産省食品総合研究所長
-
凸状領域を用いた分析方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-103948
Applicant:持田製薬株式会社
-
細胞粘着性制御材料及びその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-255627
Applicant:ソニー株式会社, 理化学研究所
-
パターン形成方法及び露光装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-143485
Applicant:株式会社ニコン, 杉村博之, 高井治
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雰囲気制御探針走査型顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-056230
Applicant:株式会社島津製作所
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