Pat
J-GLOBAL ID:200903066187187989
MOSデバイス
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
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Agent (1):
長谷川 芳樹 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001060383
Publication number (International publication number):2002261275
Application date: Mar. 05, 2001
Publication date: Sep. 13, 2002
Summary:
【要約】【課題】チャネル移動度を高めたMOSデバイスを提供する。【解決手段】本発明に係るMOSデバイスは、4H型SiCの上面に酸化膜が積層され、酸化膜の上面に金属電極が設けられたMOSデバイスにおいて、酸化膜が積層された4H型SiCの面は、{03-38}面、又は、{03-38}面に対して10°以内のオフ角αを有する。
Claim (excerpt):
4H型SiCの上面に酸化膜が積層され、前記酸化膜の上面に金属電極が設けられたMOSデバイスにおいて、前記酸化膜が積層された前記4H型SiCの面は、{03-38}面、又は、{03-38}面に対して10°以内のオフ角αを有する面であることを特徴とするMOSデバイス。
IPC (6):
H01L 29/78
, H01L 29/78 652
, H01L 29/78 653
, H01L 21/205
, H01L 29/749
, H01L 21/336
FI (9):
H01L 29/78 652 H
, H01L 29/78 652 P
, H01L 29/78 652 T
, H01L 29/78 653 A
, H01L 21/205
, H01L 29/78 301 Q
, H01L 29/74 601 A
, H01L 29/78 301 B
, H01L 29/78 658 E
F-Term (52):
5F005AA03
, 5F005AC02
, 5F005AE09
, 5F005AH02
, 5F005AH03
, 5F005AH04
, 5F005CA04
, 5F045AA06
, 5F045AB06
, 5F045AB32
, 5F045AB33
, 5F045AC01
, 5F045AC11
, 5F045AD10
, 5F045AD18
, 5F045AE23
, 5F045AF02
, 5F045AF13
, 5F045BB16
, 5F045CA05
, 5F045DA52
, 5F045DA53
, 5F045EE12
, 5F045HA15
, 5F045HA16
, 5F140AA01
, 5F140AA05
, 5F140AA07
, 5F140AA25
, 5F140AC23
, 5F140AC39
, 5F140BA02
, 5F140BA20
, 5F140BC12
, 5F140BD04
, 5F140BD05
, 5F140BD07
, 5F140BE07
, 5F140BE09
, 5F140BE10
, 5F140BE17
, 5F140BF01
, 5F140BF05
, 5F140BG44
, 5F140BH14
, 5F140BH21
, 5F140BH30
, 5F140BJ11
, 5F140BK13
, 5F140BK21
, 5F140BK38
, 5F140CD09
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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半導体装置及びその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-320092
Applicant:工業技術院長
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MOSデバイス、およびその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-086823
Applicant:三洋電機株式会社
-
半導体装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-346455
Applicant:独立行政法人産業技術総合研究所, 科学技術振興事業団
-
特許第3854508号
-
特許第4470333号
-
単結晶の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-267722
Applicant:株式会社豊田中央研究所, 株式会社デンソー
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