写真測量方法

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：相田伸二 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995112546
Publication number (International publication number)：1996285587
Application date： Apr. 13, 1995
Publication date： Nov. 01, 1996
Summary：

【要約】【目的】写真測量において、正確に、かつ効率良くマッチング処理し得ること。【構成】写真測量において、被写体101を所定の第一写真画像31及び第二写真画像32として取得し、第一写真画像上において、隣接する画素PCについて明度L等の色の度合を比較して該色の度合に変化が生じる位置に対応する画素を検出し、その検出した画素を基準画素PCaとする相関窓35を第一写真画像上に設定し、第二写真画像上に相関窓に対応した探索窓36を設定し、探索窓を第二写真画像上で移動して、それら窓内の画像との類似度を判定し、相関窓の基準画素に対応する第二写真画像上の対応画素PCbを検出し、第一及び第二写真画像において対応する、それら第一及び第二写真画像上の基準画素と対応画素の各座標位置(xa、ya)、(xb、yb)に基づいて、被写体の三次元座標位置(X,Y,Z)を検出するようにして構成される。

Claim (excerpt)：

被写体を所定距離離れた複数の地点から取得した第一写真画像と第二写真画像に基づいて、該被写体の三次元測量をする写真測量において、前記被写体を、所定の第一写真画像として取得し、かつ所定の第二写真画像として取得し、前記第一写真画像上において、隣接する画素について色の度合を比較して該色の度合に変化が生じる位置に対応する画素を検出し、前記検出した色の度合に変化が生じる位置に対応する画素を、基準画素とし、前記第一写真画像上に、前記基準画素を基準として所定の領域を包囲する相関窓を設定し、前記第二写真画像上に、前記設定した相関窓に対応した探索窓を設定し、前記探索窓を前記第二写真画像上で移動して、前記相関窓内の画像と前記探索窓内の画像との類似度を判定し、前記相関窓の基準画素に対応する前記第二写真画像上の対応画素を検出し、前記第一及び第二写真画像において対応する、それら第一及び第二写真画像上の前記基準画素と前記対応画素の各位置に基づいて、前記被写体の三次元位置を検出するようにして構成した写真測量方法。

IPC (3)：

G01C 11/04 , G06T 7/00 , G01B 11/00

FI (3)：

G01C 11/04 , G01B 11/00 H , G06F 15/62 415

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

3次元形状入力方式
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-231321 Applicant：三菱電機株式会社
ステレオ画像表示装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-224671 Applicant：株式会社トプコン
特開平2-268215

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