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J-GLOBAL ID:200903067248272158
カラムおよび気体の汚染状態の評価方法
Inventor:
,
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,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
中山 亨
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2007177013
Publication number (International publication number):2009014522
Application date: Jul. 05, 2007
Publication date: Jan. 22, 2009
Summary:
【課題】気中の汚染物質をサンプリングするに際して吸収溶液を用いることなく、気中の汚染状態を簡便に、また精度よく評価する方法を提供すること。【解決手段】平均粒径または断面平均直径が500μm〜1000μmである基材に、吸着剤が保持されてなる充填剤が充填されたカラムであって、当該カラムの空隙容積が5〜100μlである気体吸着用カラム。該カラムに、評価対象の気体を通気することにより、該気体に含まれる酸物質または塩基物質をカラム内の充填剤に吸着させ、夫々、吸着された酸物質または塩基物質をオンラインで溶媒抽出して分析する気体の汚染状態の評価方法。【選択図】なし
Claim (excerpt):
平均粒径または断面平均直径が500μm〜1000μmである基材に、吸着剤が保持されてなる充填剤が充填されたカラムであって、当該カラムの空隙容積が5〜100μlであることを特徴とする気体吸着用カラム。
IPC (5):
G01N 30/88
, G01N 30/00
, G01N 30/04
, G01N 30/06
, G01N 30/08
FI (7):
G01N30/88 201Y
, G01N30/00 E
, G01N30/04 A
, G01N30/06 Z
, G01N30/08 G
, G01N30/88 201G
, G01N30/88 101C
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
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気体中の塩基性化合物の定量方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-023408
Applicant:株式会社住化分析センター
Cited by examiner (5)
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クリーンルーム内空間の汚染状態の評価方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-143578
Applicant:株式会社住化分析センター
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ホウ素化合物捕集用パッシブサンプラー
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-324566
Applicant:株式会社住化分析センター
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クリーンルーム内の大気中の有機物の分析方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-112066
Applicant:株式会社住化分析センター
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捕集方法及び捕集装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-253906
Applicant:株式会社東芝
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気体中の微量有機物の分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-148261
Applicant:栗田工業株式会社
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