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J-GLOBAL ID:200903022123620282

クリーンルーム内空間の汚染状態の評価方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 久保山 隆 ,  中山 亨 ,  榎本 雅之
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005143578
Publication number (International publication number):2006322716
Application date: May. 17, 2005
Publication date: Nov. 30, 2006
Summary:
【課題】 ホウ素化合物をサンプリングするに際して希酸性溶液を用いることなく、クリーンルーム内空間のホウ素化合物による汚染状態を簡便に評価する方法を提供すること。【解決手段】 クリーンルーム内空間ガスを、セルロース製パウダーを充填したカラムまたはセルロース製メンブレンフィルタを装着した濾過器に、通気することにより、該空間ガスに含まれるホウ素化合物を該セルロース製パウダーまたは該セルロース製メンブレンフィルタに吸着させ、次いで、吸着されたホウ素化合物を、該セルロース製パウダーまたは該セルロース製メンブレンフィルタから脱離させ、脱離したホウ素化合物を分析することを特徴とするクリーンルーム内空間の汚染状態の評価方法。【選択図】 なし
Claim (excerpt):
クリーンルーム内空間ガスを、セルロース製パウダーを充填したカラムまたはセルロース製メンブレンフィルタを装着した濾過器に、通気することにより、該空間ガスに含まれるホウ素化合物を該セルロース製パウダーまたは該セルロース製メンブレンフィルタに吸着させ、次いで、吸着されたホウ素化合物を、該セルロース製パウダーまたは該セルロース製メンブレンフィルタから脱離させ、脱離したホウ素化合物を分析することを特徴とするクリーンルーム内空間の汚染状態の評価方法。
IPC (4):
G01N 30/00 ,  B01J 20/24 ,  G01N 1/22 ,  G01N 33/00
FI (4):
G01N30/00 E ,  B01J20/24 A ,  G01N1/22 L ,  G01N33/00 C
F-Term (20):
2G052AA03 ,  2G052AB01 ,  2G052AC13 ,  2G052AD02 ,  2G052AD46 ,  2G052BA14 ,  2G052BA21 ,  2G052CA02 ,  2G052CA12 ,  2G052ED01 ,  2G052ED07 ,  2G052ED11 ,  2G052GA24 ,  2G052JA04 ,  4G066AC02B ,  4G066BA03 ,  4G066BA09 ,  4G066CA21 ,  4G066DA03 ,  4G066EA20
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
Article cited by the Patent:
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