Pat
J-GLOBAL ID：200903067915447700
光周波数測定方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：
柳田 征史
, 佐久間 剛
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007066428
Publication number (International publication number)：2008107314
Application date： Mar. 15, 2007
Publication date： May. 08, 2008
Summary：
【課題】モード同期レーザ周波数コムを用いて未知のレーザの光周波数を測定することによって、絶対光周波数測定のための簡単で系統的な方法を提供する。【解決手段】モード同期レーザの繰返し数を変えることによる、対応するビート周波数の変化によって、ビート発生コム線に対する未知のレーザの相対周波数位置が決定される。また、モード同期レーザのオフセット周波数を変えることによる、対応する未知のレーザとモード同期レーザ周波数コムの間のビート周波数変化によって、自己参照法で検出される真のオフセット周波数も決定され得る。様々な繰返し数における未知のレーザとモード同期レーザ周波数コムの間のビート周波数を測定し、対応するモード次数の変化を測定することによって、周波数コムのモード次数が一意的かつ絶対的に決定され、よって未知のレーザの光周波数が決定される。【選択図】図3
Claim (excerpt)：
少なくとも1つのモード同期レーザコムを用いる、未知のレーザの周波数を測定するための方法において、
前記モード同期レーザの繰返し数を第1の繰返し数に設定する工程及び前記未知のレーザと前記モード同期レーザの第n次コム線の間で第1のビート周波数を発生させる工程、
前記第1のビート周波数の変化によって前記第n次コム線に対する前記未知のレーザの相対周波数位置を決定するために前記第1の繰返し数を変える工程、及び
前記第1のビート周波数の変化によって前記モード同期レーザのオフセット周波数を同定するために前記モード同期レーザのオフセット周波数を変える工程、
を有してなることを特徴とする方法。
IPC (1)：
FI (1)：
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3)
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光周波数測定システム
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2000-370491
Applicant：科学技術振興事業団
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光周波数測定装置および測定方法
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2002-215590
Applicant：日本電信電話株式会社
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光学的周波数発生器
Gazette classification：公表公報
Application number：特願平8-531405
Applicant：ハインリッヒ-ヘルツ-インステイテユートフユールナツハリヒテンテヒニークベルリンゲゼルシヤフトミツトベシユレンクテルハフツング
Cited by examiner (3)
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光周波数測定システム
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2000-370491
Applicant：科学技術振興事業団
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光周波数測定装置および測定方法
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2002-215590
Applicant：日本電信電話株式会社
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光学的周波数発生器
Gazette classification：公表公報
Application number：特願平8-531405
Applicant：ハインリッヒ-ヘルツ-インステイテユートフユールナツハリヒテンテヒニークベルリンゲゼルシヤフトミツトベシユレンクテルハフツング
Article cited by the Patent：
Cited by applicant (1)
Cited by examiner (1)
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