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J-GLOBAL ID:200903067946516077
ドーパント前駆体を用いた製造方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (5):
三枝 英二
, 舘 泰光
, 眞下 晋一
, 松本 公雄
, 立花 顕治
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2002565340
Publication number (International publication number):2004525509
Application date: Feb. 12, 2002
Publication date: Aug. 19, 2004
Summary:
シリコン合金およびドープシリコン膜が、III族およびV族の原子の供給源としてSiを含有する化学前駆体を用いた化学気相成長法およびイオン注入法によって調製される。好ましいドーパント前駆体には、(H3Si)3-xMRx、(H3Si)3N、および(H3Si)4N2(ここで、RはHまたはDであり、xは0、1または2であり、MはB、P、AsおよびSbからなる群の中から選択される)が含まれる。好ましい堆積法によって、結晶膜を含めて、水素非添加のシリコン合金膜およびドープシリコン膜が製造される。
Claim (excerpt):
水素非添加のSi含有膜を製造するための堆積法であって、
内部に基板を配置した気相成長チャンバを準備するステップ、
少なくとも1個のシリコン原子および少なくとも1個のIII族またはV族の原子を含むドーパント前駆体を前記チャンバに導入するステップ、および
水素非添加のSi含有膜を前記基板上に堆積させるステップを含む堆積法。
IPC (1):
FI (1):
F-Term (7):
5F045AA03
, 5F045AB01
, 5F045AB03
, 5F045AB06
, 5F045AC01
, 5F045AC19
, 5F045BB04
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (9)
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特開昭63-051680
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半導体膜の成長方法及び半導体装置の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-060210
Applicant:松下電器産業株式会社
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プラズマCVD装置およびこれを用いた半導体装置の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-316651
Applicant:株式会社フロンテック
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グレインサイズがコントロールされたポリシリコン薄膜およびその製法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-101898
Applicant:鐘淵化学工業株式会社
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半導体被膜作製装置および薄膜太陽電池および薄膜太陽電池の作製方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-069391
Applicant:株式会社半導体エネルギー研究所, ティーディーケイ株式会社
-
導電性パターンの形成方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-108784
Applicant:半那純一
-
半導体薄膜成長装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-213959
Applicant:株式会社東芝
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MOSトランジスタ及びその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-136090
Applicant:シーメンスアクチエンゲゼルシヤフト
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ドープド薄膜の成膜方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-093282
Applicant:東京エレクトロン株式会社
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