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J-GLOBAL ID:200903068475421093

中性子回折法と磁気測定法とを用いるリチウム電池用正極材料の精密結晶構造評価方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001150290
Publication number (International publication number):2002340821
Application date: May. 21, 2001
Publication date: Nov. 27, 2002
Summary:
【要約】【課題】 リチウム二次電池の開発、特にリチウム二次電池に適した正極材料の開発を目指した精密構造評価方法の提供。【解決手段】 高分解能中性子回折装置を用いた中性子回折法及び超伝導量子干渉計を用いた磁気測定法を組み合わせることにより、電極材料の構造中のリチウムや酸素に関する精度の良い情報を得ることからなる。
Claim (excerpt):
高分解能中性子回折装置を用いる中性子回折法と超伝導量子干渉計を用いる磁気測定法とを組み合わせて用いるリチウム電池用正極材料の精密構造評価方法。
IPC (5):
G01N 23/204 ,  G01N 27/72 ,  G21K 1/06 ,  G21K 5/02 ,  H01M 4/58
FI (5):
G01N 23/204 ,  G01N 27/72 ,  G21K 1/06 ,  G21K 5/02 N ,  H01M 4/58
F-Term (28):
2G001AA04 ,  2G001BA18 ,  2G001CA04 ,  2G001GA01 ,  2G001GA13 ,  2G001KA08 ,  2G001LA02 ,  2G001NA17 ,  2G053AA08 ,  2G053AB06 ,  2G053AB14 ,  2G053BA02 ,  2G053BA04 ,  2G053BA15 ,  2G053BB17 ,  2G053BC10 ,  2G053CA10 ,  5H050AA19 ,  5H050BA15 ,  5H050BA16 ,  5H050CA09 ,  5H050CB12 ,  5H050DA02 ,  5H050GA28 ,  5H050HA04 ,  5H050HA14 ,  5H050HA16 ,  5H050HA20
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (11)
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Article cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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