磁性体粉の検出方法及び検出装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：田村敏朗 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998349552
Publication number (International publication number)：2000171443
Application date： Dec. 09, 1998
Publication date： Jun. 23, 2000
Summary：

【要約】【課題】被検査物に含まれる磁性体粉の位置及び被検査物の捩れに影響されず、磁性体粉の大きさに比例する検出信号を取り出すこと。【解決手段】被検査線は、例えば左から右方向に走行する。磁界発生手段は被検査線の走行方向に平行な磁界を発生する。磁気センサは磁気遮断容器で包囲されている。被検査線は磁界発生手段で生成された平行磁界を通過し、次いで磁気遮断容器に開けられた貫通孔を通過する。平行磁界を通過する際、被検査線に含まれる磁性体粉は磁化される。平行磁化された磁性体粉が磁気センサの下を通過すると、磁気センサ内のピックアップコイルは磁界変動を検出し、磁気センサの出力は変動する。

Claim (excerpt)：

連続してその長手方向に走行する長尺の被検査物に磁界を加え、磁界が加えられた被検査物の磁界変動を磁気センサで検出することにより、被検査物に含まれる磁性体粉を検出する方法において、被検査物の走行方向に平行な磁界を被検査物に加えることを特徴とする磁性体粉の検出方法。

F-Term (9)：

2G053AA13 , 2G053AB14 , 2G053BA04 , 2G053BA14 , 2G053BB03 , 2G053BB11 , 2G053BC14 , 2G053BC20 , 2G053CA10

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

欠陥検出装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-294649 Applicant：三菱マテリアル株式会社, 有限会社日本エステック
磁性体微粉の検出装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-181171 Applicant：住友電気工業株式会社
特開平4-240561

Show all

Return to Previous Page