磁性体微粉の検出装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：越場隆
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996181171
Publication number (International publication number)：1998010091
Application date： Jun. 21, 1996
Publication date： Jan. 16, 1998
Summary：

【要約】【課題】連続して走行する長尺の被検査物1に含まれる磁性体の微細な異物を、被検査物1を破壊することなく連続して検出する。【解決手段】被検査物1を特定の方向に磁化するための磁界発生手段2と、磁界発生手段2により磁化された被検査物1を含む特定の領域で磁界の変動を検出する磁気センサ3とを具備する。ここで、磁界発生手段2は、被検査物1の走行方向と直角な磁界を発生して被検査物1を磁化する。磁気センサ3は、磁界発生手段2により発生された磁界と同じ方向の磁界を高感度に検出できるように配置されている。

Claim (excerpt)：

連続してその長手方向に走行する長尺の被検査物に対して、該被検査物を磁化する磁界発生手段と、該磁界発生手段により磁化された被検査物のある区間を含む領域の磁界の変動をSQUIDで検出する磁気センサとを備え、該磁界の変動をから、該被検査物に含まれる磁性体微粉を検出する検出装置において、該磁界発生手段が該被検査物の走行方向に直角な磁界により該被検査物を磁化するように配置されており、且つ、該磁気センサの最も検出感度の高い方向が該磁界発生手段が発生した磁界と平行になるように該磁気センサが配置されていることを特徴とする磁性体微粉の検出装置。

IPC (4)：

G01N 27/72 , G01R 33/02 , G01R 33/035 ZAA , G01V 3/10

FI (4)：

G01N 27/72 , G01R 33/02 Q , G01R 33/035 ZAA , G01V 3/10 G

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (8)

非破壊検査装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-182883 Applicant：住友電気工業株式会社
特開平4-120456
超電導磁気センサ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-279210 Applicant：シャープ株式会社

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