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J-GLOBAL ID：200903069370464281

分光機能を備えた光干渉断層画像計測装置

Inventor：
チャン キンプイ

About チャン キンプイ

, 
丹野 直弘

About 丹野 直弘

, 
秋葉 正博

About 秋葉 正博


Applicant, Patent owner：
科学技術振興事業団

About 科学技術振興事業団


Agent (1)： 清水 守
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001219244
Publication number (International publication number)：2003035660
Application date： Jul. 19, 2001
Publication date： Feb. 07, 2003
Summary：
【要約】 (修正有)【課題】 実時間で反射光の深さおよび分光情報を同時に取得できる分光機能を備えた光干渉断層画像計測装置を提供する。【解決手段】 広いスペクトル幅をもつ光ビームを、被測定体を経由する信号光と参照光とに二分するとともに、信号光と参照光を互いに重畳することにより干渉光を生成する干渉光学系と、この干渉光学系が、信号光の周波数と参照光の周波数を相対的にシフトさせる周波数シフタと、干渉光を二分割して、二分割された干渉光のうち少なくとも一方を分光するための回折格子8と、分光された干渉光を独立にヘテロダイン検出する光センサと、光センサが、空間的に配列され、それぞれが独立にヘテロダイン検出する複数の受光素子を有し、光センサで得られた複数のヘテロダイン信号の振幅を検出するための振幅検出部と、振幅検出部で得られた複数のヘテロダイン信号振幅を統合して被測定体の表面もしくは内部層の信号を生成する信号処理部を具備する。
Claim (excerpt)：
(a)広いスペクトル幅をもつ光ビームを出射する光源と、(b)該光源から出射された光ビームを、被検体が配置される被検体配置位置を経由する信号光と、該被検体配置位置を経由する光路とは異なる光路を経由する参照光とに二分するとともに、前記被検体配置位置を経由した後の信号光と、前記異なる光路を経由した参照光とを互いに重畳することにより干渉光を生成する干渉光学系と、(c)該干渉光学系が、前記信号光の周波数と前記参照光の周波数を相対的にシフトさせる周波数シフタと、(d)前記干渉光学系が、前記干渉光を受光するために、前記干渉光を二分割して、さらに、該二分割された干渉光のうち少なくとも一方を分光するための波長分散素子と、(e)該分光された干渉光を独立にヘテロダイン検出する光センサと、(f)該光センサが、空間的に配列され、それぞれが独立にヘテロダイン検出する複数の受光素子を有し、さらに、前記光センサで得られた複数のヘテロダイン信号の振幅を検出するための振幅検出部と、(g)該振幅検出部で得られた複数のヘテロダイン信号振幅を統合して前記被検体配置位置に配置された被検体の表面もしくは内部層の、前記信号光の伝搬経路上の各関心点に対応する信号を生成する信号処理部を具備することを特徴とする分光機能を備えた光干渉断層画像計測装置。
IPC (2)：
G01N 21/17 630 ,  A61B 10/00
FI (2)：
G01N 21/17 630 ,  A61B 10/00 E
F-Term (19)：
2G059AA05 ,  2G059AA06 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059EE12 ,  2G059FF09 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ22 ,  2G059JJ23 ,  2G059KK01 ,  2G059KK03 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
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