Pat
J-GLOBAL ID：200903070103039170

液晶パネルの検査装置及び液晶パネルの検査方法、並びに投射型表示装置

Inventor：
羽生田 千春

About 羽生田 千春


Applicant, Patent owner：
セイコーエプソン株式会社

About セイコーエプソン株式会社


Agent (1)： 鈴木 喜三郎 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997346920
Publication number (International publication number)：1999174398
Application date： Dec. 16, 1997
Publication date： Jul. 02, 1999
Summary：
【要約】【課題】斜め方向の光をも考慮して正確に液晶パネルの検査を行う手段を提供すること。【解決手段】検査対象である液晶パネル21に光を照射するランプ15と、液晶パネル21の透過光を所定位置に設置されたスクリーン70上に投影する投影光学系60と、スクリーン70上の像の輝度分布を検出する視野角度θのCCDカメラ30と、液晶パネル21を所定の検査パターンで駆動する検査パターン発生部40と、検査パターンとCCDカメラ30による検出結果とを参照して、液晶パネル21の点欠陥の存在の有無を判定する欠陥判定部50とを有する。
Claim (excerpt)：
液晶パネルを検査する装置であって、前記液晶パネルに光を照射する光源と、前記液晶パネルが所定の検査パターンの像を形成するように駆動する検査パターン発生部と、前記液晶パネルにより透過或いは反射された光を所定位置に設置されたスクリーン上に投射する投射光学系と、前記スクリーン上の投射像の輝度分布を検出する検出手段と、前記検査パターンと前記検出手段による検出結果とを比較して、前記液晶パネルの欠陥画素の発生状態を検査する欠陥判定部と、を備えたことを特徴とする液晶パネルの検査装置。
IPC (3)：
G02F 1/13 101 ,  G09G 3/20 670 ,  G09G 3/36
FI (3)：
G02F 1/13 101 ,  G09G 3/20 670 B ,  G09G 3/36
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (7)
Show all

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM