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J-GLOBAL ID：200903071064756850

指紋照合装置および指紋照合方法

Inventor： 吉田 浩明 ,  星野 健
Applicant, Patent owner： NECインフロンティア株式会社
Agent (3)： 宮崎 昭夫 ,  石橋 政幸 ,  緒方 雅昭
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004320811
Publication number (International publication number)：2006133979
Application date： Nov. 04, 2004
Publication date： May. 25, 2006
Summary：

【課題】 ユーザに煩わしい作業を強いることなく、かつ、簡単に指紋照合を行うことが可能な指紋照合装置を提供する。【解決手段】 指紋照合装置は、被認証者の登録指紋画像と品質情報とをICカード6に記録する。そして、MPU5は、ICカード6に記録された品質情報に基づき、その指紋にあった照合のセキュリティ品質レベル、具体的には判定レベルを算出する。指紋データ入力・照合部2は、被認証者の入力指紋画像と登録指紋画像との一致度を示す一致度情報を算出し、その一致度情報とその算出された判定レベルとに基づいて、入力指紋画像が登録指紋画像と同じであるか否か判定する。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

ユーザの指紋を読み取り、その読み取った指紋を示す入力指紋画像を出力する読取部と、 予め登録されている登録指紋画像を格納する画像格納部と、 前記読取部が出力した入力指紋画像を前記画像格納部が格納している登録指紋画像と照合してそれらの一致度を示す一致度情報を生成し、その一致度情報と前記登録指紋画像の品質に応じた判定レベルとに基づいて前記入力指紋画像が前記登録指紋画像と同じであるか否かを判定する照合判定部と、を含む指紋照合装置。

IPC (1)：

G06T 7/00

FI (1)：

G06T7/00 530

F-Term (5)：

5B043AA09 ,  5B043BA02 ,  5B043FA03 ,  5B043FA07 ,  5B043GA02

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 入力指紋状態判定方法及び装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-095060   Applicant：富士通株式会社
• 生体的特徴の認証精度推定方法及び装置、記録媒体
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-109708   Applicant：株式会社エヌ・ティ・ティ・データ

Cited by examiner (4)

• 指紋照合方法及び指紋照合装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-243779   Applicant：富士通電装株式会社
• 指紋による個人認証システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-093945   Applicant：富士通サポートアンドサービス株式会社, キーウェアソリューションズ株式会社
• 指紋照合装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-263246   Applicant：日本電気セキュリティシステム株式会社
• 指紋照合システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-019983   Applicant：日本電気株式会社