フォトン走査トンネル顕微鏡用ピックアップ

Inventor： , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：小池隆彌
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998038585
Publication number (International publication number)：1999237391
Application date： Feb. 20, 1998
Publication date： Aug. 31, 1999
Summary：

【要約】【課題】フォトン走査トンネル顕微鏡(PSTM)で、ラマン分光測定の際には感度を上げるためには、入射光の強度を上げる必要があり、それはピックアップの先端部の温度上昇の問題が生じた。また、表面増強ラマン分光法は高感度であるが、高い分解能は有していなかった。そこで本発明では、フォトン走査トンネル顕微鏡(PSTM)のもつ高分解能と、表面増強ラマン分光法のもつ高感度測定との両方の特長を実現する光ピックアップを提供する。【解決手段】本発明に係るフォトン走査トンネル顕微鏡(PSTM)用ピックアップであって、試料表面に最も接近あるいは接触する先端部分にアイランド状金属を有することを特徴としている。このピックアップを用いて、試料表面を走査すると、入射光がピックアップ先端に到達したとき、試料表面では表面増強ラマン分光法と同一の効果が発生し、結果的に測定の際の感度を大幅に向上する。また、上記金属表面に誘起された電場は、空間的に急激に減衰するので、表面近傍の情報を選択的に抽出し、S/N比のよいデータを提供することができる。

Claim (excerpt)：

フォトン走査トンネル顕微鏡(PSTM)用ピックアップであって、試料表面に最も接近あるいは接触する先端部分にアイランド状金属を有することを特徴とするフォトン走査トンネル顕微鏡用ピックアップ。

IPC (5)：

G01N 37/00 , G01B 11/30 , G01J 3/44 , G01N 21/27 , G01N 21/65

FI (6)：

G01N 37/00 E , G01N 37/00 G , G01B 11/30 Z , G01J 3/44 , G01N 21/27 C , G01N 21/65

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

フォトン走査トンネル顕微鏡
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-029818 Applicant：日本分光株式会社
近視野光学装置用インテリジェントセンサ
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平7-505020 Applicant：ブリティッシュ・テクノロジー・グループ・リミテッド
顕微鏡の電磁放射線トランスミッタまたは電磁放射線検出装置
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平8-509211 Applicant：フィッシャー,ウルリヒ

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