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J-GLOBAL ID：200903073514185240

RFIDタグの測定装置及び測定方法並びに該装置を用いたRFID用タグの製造方法

Inventor：
魚住 学司

About 魚住 学司

, 
石山 宏一

About 石山 宏一

, 
飯田 照幸

About 飯田 照幸


Applicant, Patent owner：
三菱マテリアル株式会社

About 三菱マテリアル株式会社


Agent (1)： 宮本 恵司
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002136428
Publication number (International publication number)：2003331220
Application date： May. 13, 2002
Publication date： Nov. 21, 2003
Summary：
【要約】【課題】RFID用タグの共振周波数やQ値の測定をインレーがアレイ状に配列された形態においても実施することができるRFIDタグの測定装置及び測定方法並びに該装置を用いたRFID用タグの製造方法の提供。【解決手段】ロール状の絶縁性フィルム10aにシートコイル11がアレイ状に配列されたロール形態のインレーの共振周波数やQ値を測定する装置13であって、測定対象となるインレー周囲を覆うように非磁性金属板12を設置することにより、測定対象のインレーと周囲のインレーのコイル同士の相互誘導を抑制して正確に共振周波数を測定することができ、この装置を用いることにより、インレーを枚葉に分離しなくてもトリミング作業を行うことができるため、生産性を向上させてRFID用タグのコストを低減することができる。
Claim (excerpt)：
絶縁性フィルム上に複数配列されたRFIDタグのインレーの各々に対して、検知用コイルを近接させて共振周波数又はQ値あるいは両者を測定する測定装置において、前記絶縁性フィルムの法線方向から見て、測定対象となるインレーの周囲を覆うように非磁性金属板が配設され、該非磁性金属板により、前記測定対象のインレーと隣接するインレーとの相互誘導が抑制されることを特徴とする測定装置。
IPC (9)：
G06K 17/00 ,  G01R 27/26 ,  G01S 7/03 ,  G01S 13/75 ,  G01S 13/76 ,  G01S 13/79 ,  G06K 19/07 ,  G06K 19/077 ,  H01Q 1/38
FI (7)：
G06K 17/00 B ,  G01R 27/26 Q ,  G01S 7/03 C ,  H01Q 1/38 ,  G01S 13/80 ,  G06K 19/00 H ,  G06K 19/00 K
F-Term (20)：
2G028BB05 ,  2G028BC02 ,  2G028CG13 ,  2G028CG14 ,  2G028EJ01 ,  5B035AA03 ,  5B035BB09 ,  5B035CA23 ,  5B035CA33 ,  5B058CA17 ,  5B058KA28 ,  5B058YA20 ,  5J046AA01 ,  5J046AA09 ,  5J046AA13 ,  5J046AB11 ,  5J046PA07 ,  5J070AA04 ,  5J070BC06 ,  5J070BC36
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
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