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J-GLOBAL ID：200903073655521634

ICP分析装置

Inventor：
平野 智之

About 平野 智之


Applicant, Patent owner：
株式会社島津製作所

About 株式会社島津製作所


Agent (1)： 喜多 俊文 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002009358
Publication number (International publication number)：2003215042
Application date： Jan. 18, 2002
Publication date： Jul. 30, 2003
Summary：
【要約】【課題】 溶液試料を霧化する噴霧室の温度変動を抑え、経済的でデータ変動の少ないICP分析装置を提供する。【解決手段】 アルゴンガス流量制御部1aからクーラントガスが噴霧室空冷部4bに流され、噴霧室4aが冷却され温度変動が抑制される。高周波電源5からコイル6に高周波電流が流され電磁誘導によってプラズマが発生する。そして試料2がキャリアガスと共にネブライザ4cから噴霧室4aで霧化され、一定の流量で石英管7aの先端からプラズマ中心(E)に送り込まれる。噴霧室空冷部4bからのクーラントガスが、プラズマトーチ7の石英管7cに送られ、補助ガスが石英管7bに送られ、プラズマトーチ7の先端でプラズマが発生し、その発光が分光器8で分光され、データ処理部9のデータが表示部10で表示される。
Claim (excerpt)：
溶液試料をキャリアガスと共に試料霧化部の噴霧室空冷部によって温度変動が抑えられた噴霧室のネブライザから噴霧して霧化し、三重パイプ構造のプラズマトーチの中央部に導入し、中間パイプから補助ガスと共に、外側パイプからのクーラントガスで囲んでプラズマトーチの先端部に導入し、前記プラズマトーチの先端部に設けられ高周波電源に接続されたコイルに高周波電流を流し電磁誘導によって試料ガスをプラズマ放電させ、その発光、又はイオンを用いて試料に含まれる元素の分析を行うICP分析装置において、前記試料霧化部の噴霧室空冷部に温度変動がない装置に使用されるガスを導入して噴霧室の温度変動を抑制したことを特徴とするICP分析装置。
IPC (2)：
G01N 21/73 ,  G01N 27/62
FI (2)：
G01N 21/73 ,  G01N 27/62 F
F-Term (11)：
2G043AA01 ,  2G043CA03 ,  2G043EA08 ,  2G043FA06 ,  2G043GA19 ,  2G043GB07 ,  2G043GB09 ,  2G043HA01 ,  2G043JA04 ,  2G043LA02 ,  2G043MA03
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (6)
  • ICP分析装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-202302   Applicant：株式会社島津製作所
  • 特開昭63-163146
  • 特開昭63-168538
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