Pat
J-GLOBAL ID:200903073658663170

排ガスモニタ装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 作田 康夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999133728
Publication number (International publication number):2000137024
Application date: May. 14, 1999
Publication date: May. 16, 2000
Summary:
【要約】【課題】ダイオキシン類,クロロフェノール類,クロロベンゼン類の連続直接測定を可能にする排ガスモニタ装置を提供する。【解決手段】排ガスを採取する試料ガス採取手段と、当該試料ガス採取手段によって採取した試料ガスをほぼ大気圧下でイオン化する大気圧イオン源と、当該大気圧イオン源によって生成したイオンを質量分析する質量分析部と、計測された信号を処理するデータ処理装置とを備えた排ガスモニタ装置であって、前記排ガスを吸引するためのポンプと、前記試料ガス採取手段から前記ポンプまでの経路を有する第1の配管と、前記試料ガス採取手段から前記大気圧イオン源を介して前記ポンプまでの経路を有する第2の配管を備える。【効果】ダイオキシン類,クロロフェノール類やクロロベンゼン類の検出精度が高く、且つ安定した分析値が連続して得られる。
Claim (excerpt):
排ガスを採取する試料ガス採取手段と、当該試料ガス採取手段によって採取した試料ガスをほぼ大気圧下でイオン化する大気圧イオン源と、当該大気圧イオン源によって生成したイオンを質量分析する質量分析部と、計測された信号を処理するデータ処理装置とを備えた排ガスモニタ装置であって、前記排ガスを吸引するためのポンプと、前記試料ガス採取手段から前記ポンプまでの経路を有する第1の配管と、前記試料ガス採取手段から前記大気圧イオン源を介して前記ポンプまでの経路を有する第2の配管を備えたことを特徴とする排ガスモニタ装置。
IPC (2):
G01N 27/62 ZAB ,  H01J 49/04 ZAB
FI (2):
G01N 27/62 ZAB V ,  H01J 49/04 ZAB
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)

Return to Previous Page