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J-GLOBAL ID:200903073700599321

再結晶率と結晶粒アスペクト比の分離測定方法および装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 青木 篤 ,  鶴田 準一 ,  西山 雅也
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004116948
Publication number (International publication number):2005300346
Application date: Apr. 12, 2004
Publication date: Oct. 27, 2005
Summary:
【課題】 熱間オンラインで測定対象物についての再結晶率と結晶粒アスペクト比とを分離測定すること。【解決手段】 ヘッド部30は、ラインフォーカスビームを測定対象物2に照射してその内部に圧延方向偏波横波又は幅方向偏波横波を発生させると共に、測定対象物2の所定位置に第二レーザビームを導き、そこで反射した第二レーザビームを取得する。コンピュータ70は、干渉計50で検出された第二レーザビームの波形データから横波の音速を算出すると共に、温度センサ80により測定された温度を所定温度と比較する。コンピュータ70は、各横波の音速から得られる音速パラメータを用い、予め準備された再結晶率および結晶粒アスペクト比と音速パラメータとの関係を示すデータに基づき、前記測定された温度が所定温度以上である場合に再結晶率を演算し、所定温度より低い場合に結晶粒アスペクト比を演算する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
板状の測定対象物についての再結晶率と結晶粒アスペクト比とを分離測定する再結晶率と結晶粒アスペクト比の分離測定装置であって、 各鋼種について結晶粒アスペクト比と横波音速の異方性を表す音速パラメータとの相関関係を示すデータを記憶する記憶手段と、 第一レーザビームを前記測定対象物の表面に照射することにより、前記測定対象物の内部に横波超音波を発生させる超音波発生手段と、 前記測定対象物の内部に発生した、前記測定対象物の長手方向に偏波した第一の横波超音波、前記測定対象物の幅方向に偏波した第二の横波超音波の各々について、当該横波超音波が到達する前記測定対象物の所定位置に第二レーザビームを導くと共に、前記測定対象物で反射した前記第二レーザビームを取得するビーム取得手段と、 前記ビーム取得手段で取得された前記第二レーザビームに基づいて、当該横波超音波の振動に起因して生じる前記第二レーザビームの周波数の変化を検出する周波数変化検出手段と、 前記測定対象物の温度を測定する温度測定手段と、 前記第一の横波超音波及び前記第二の横波超音波の各々について、前記周波数変化検出手段で検出された前記第二レーザビームの周波数変化を表す波形データに基づいて当該横波超音波が前記測定対象物の内部を伝播した伝播時間を求め、その求めた伝播時間に基づいて当該横波超音波の音速を算出し、且つ、前記第一の横波超音波の音速と前記第二の横波超音波の音速とを用いて前記測定対象物についての音速パラメータを求め、その求めた音速パラメータを用い、前記記憶手段に記憶された前記測定対象物と同じ鋼種についての前記相関関係を示すデータに基づいて、前記温度測定手段により測定された温度が所定温度以上である場合に、前記測定対象物についての再結晶率を演算し、所定温度より低い場合に結晶粒アスペクト比を演算する演算手段と、 を具備することを特徴とする再結晶率と結晶粒アスペクト比の分離測定装置。
IPC (1):
G01N29/00
FI (1):
G01N29/00 501
F-Term (11):
2G047AA07 ,  2G047AB04 ,  2G047BC02 ,  2G047BC14 ,  2G047CA04 ,  2G047CB02 ,  2G047GA13 ,  2G047GD01 ,  2G047GF11 ,  2G047GG36 ,  2G047GG43
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (13)
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Cited by examiner (13)
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Article cited by the Patent:
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