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J-GLOBAL ID：200903075691851465

イオントラップ質量分析装置

Inventor：
小西 郁夫

About 小西 郁夫


Applicant, Patent owner：
株式会社島津製作所

About 株式会社島津製作所


Agent (1)： 竹本 松司 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997013534
Publication number (International publication number)：1998208692
Application date： Jan. 28, 1997
Publication date： Aug. 07, 1998
Summary：
【要約】【課題】 イオントラップ電極内の中心近傍の電界に非対称性を与えることなくイオンの検出感度およびイオントラップ質量分析装置の感度を向上させる。【解決手段】 イオントラップ質量分析装置1において、少なくとも一方のエンドキャップ電極3,4のリング電極2と反対側に補助電極11,12を設け、この補助電極にエンドキャップ電極との間で電圧を印加する。イオンは、イオントラップ電極の内部に形成されるリング電極によるトラッピング電界とエンドキャップ電極による補助高周波電界によってトラップされる。このとき、補助電極にエンドキャップ電極との間で直流または高周波電圧を印加すると、エンドキャップ電極に設けた貫通孔を通してイオントラップ電極の内部に、トラッピング電界や補助高周波電界と異なる電界が形成される。この電界はイオンの外部への取り出しを促進させて検出器の検出量を増加させ、検出感度を向上させる。
Claim (excerpt)：
リング電極と、リング電極の両開放端に設けた貫通孔を有する一対のエンドキャップ電極と、RF周波数ωで振幅Vの交流電圧をリング電極に印加する主RF電源と、エンドキャップ電極の少なくとも一方に高周波電圧を印加する補助電源と、前記電源を制御する制御回路と、一方のエンドキャップ電極の貫通孔から放出されるイオンを検出する検出器と、検出したイオンの数と振幅Vとに基づいて質量スペクトルを求める測定装置とを備えたイオントラップ質量分析装置において、少なくとも一方のエンドキャップ電極のリング電極と反対側に、エンドキャップ電極との間で電圧が印加される補助電極を設けたことを特徴とするイオントラップ質量分析装置。
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
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