イオントラップにイオンを捕らえるための方法およびそのためのイオントラップ質量分光計システム

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：竹内澄夫 (外1名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1998508763
Publication number (International publication number)：1999513187
Application date： Feb. 18, 1997
Publication date： Nov. 09, 1999
Summary：

【要約】イオンの飛行経路を長くすることにより、イオントラップ内にイオンを捕獲するための方法および質量分光計システムである。イオンビームは、外部のイオン源により生成され、イオントラップからのイオンビームの出口領域の近くに少なくとも一つの捕獲電極を含むイオントラップへと向かう。イオントラップ内にイオンを保持するために、イオン蓄積時間の間、フリンジ反射場を生成するように、捕獲電極に対して減速DC電圧が印加される。

Claim (excerpt)：

イオンを捕獲するための改良されたイオントラップ質量分光計システムであって、イオンビームを生成するための外部のイオン源、イオン蓄積時間の間にイオンビームが入射し、該イオンビームの軸線に沿って間隔をあけた入口および出口領域を有するイオントラップ、前記出口領域の近くに配置された、少なくとも一つの捕獲電極、および蓄積時間の間、前記イオントラップ内にフリンジ減速場をつくり、前記イオントラップ内にイオンを保持するために、前記捕獲電極に減速DC電圧を印加し、検出時間の間、前記捕獲電極に対してバイアスDC電圧を印加するための電源、を含む、をところの改良されたイオントラップ質量分光計システム。

IPC (2)：

H01J 49/42 , H01J 49/34

FI (2)：

H01J 49/42 , H01J 49/34

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

イオントラップ式質量分析システム及び方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-124918 Applicant：フィニガンコーポレイション
イオントラップ型質量分析装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-317950 Applicant：株式会社日立製作所
特開昭61-256557

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