Pat
J-GLOBAL ID：200903075832480512

反射波長計測システム

Inventor：
小島 正嗣

About 小島 正嗣


Applicant, Patent owner：
日立電線株式会社

About 日立電線株式会社


Agent (1)： 絹谷 信雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003161023
Publication number (International publication number)：2004361284
Application date： Jun. 05, 2003
Publication date： Dec. 24, 2004
Summary：
【課題】測定対象物を遠距離且つ広範囲に渡って監視、計測することが可能な反射波長計測システムを提供する。【解決手段】光源17から光分波器18を介し、ひずみや温度などを検出するFBGセンサ10〜13に光を入射し、そのFBGセンサ10〜13によって反射された光の波長を反射波長計測装置19により測定し、その測定波長を反射波長計測装置19に接続されたパソコン27によりモニターするに際して、光分波器18と反射波長計測装置19間に光増幅器21を設けて反射光を増幅するようにしたものである。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
光源から光分波器を介し、ひずみや温度などを検出する測定対象物に光を入射し、その測定対象物によって反射された光の波長を反射波長計測装置により測定するシステムにおいて、前記光源と光分波器間、光分波器と反射波長計測装置間、または光分波器と測定対象物間に光増幅器を設けたことを特徴とする反射波長計測システム。
IPC (5)：
G01D5/26 ,  G01B11/16 ,  G01J9/02 ,  G01K11/12 ,  G01M11/00
FI (5)：
G01D5/26 D ,  G01B11/16 Z ,  G01J9/02 ,  G01K11/12 F ,  G01M11/00 U
F-Term (15)：
2F056VF02 ,  2F065AA65 ,  2F065FF51 ,  2F065GG07 ,  2F065LL02 ,  2F065LL23 ,  2F065LL41 ,  2F103CA06 ,  2F103EB01 ,  2F103EC00 ,  2F103EC08 ,  2F103EC09 ,  2F103EC10 ,  2G086DD04 ,  2G086DD05
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (9)
  • 光ファイバの歪測定装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-142023   Applicant：三菱電線工業株式会社
  • 歪み等の計測方法及び計測装置並びにレーザ光源
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-256769   Applicant：三菱電線工業株式会社
  • 波長検出装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-101105   Applicant：富士電機株式会社
Show all

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM