Pat
J-GLOBAL ID:200903075899754692

変形検査方法及び装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 韮澤 弘 (外7名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998205362
Publication number (International publication number):2000039309
Application date: Jul. 21, 1998
Publication date: Feb. 08, 2000
Summary:
【要約】【課題】 光ファイバーグレーティングを用いて橋梁や隧道のような大きな被測定物の1mメッシュ程度のサイズでの平均的変形を計測する。【解決手段】 グレーティング3を内蔵した一定長Lのセンサー光ファイバー2に一定の伸張を付与した状態でその両端4を被測定物1に固定し、そのグレーティング3による反射スペクトル若しくは透過吸収スペクトルの波長変化を測定し、その変化量から被測定物1の両固定位置間の伸縮を長さLの間での平均値として計測する。
Claim (excerpt):
グレーティングを内蔵した一定長Lのセンサー光ファイバーに一定の伸張を付与した状態でその両端を被測定物に固定し、そのグレーティングによる反射スペクトル若しくは透過吸収スペクトルの波長変化を測定し、その変化量から被測定物の両固定位置間の伸縮を前記長さLの間での平均値として計測することを特徴とする変形検査方法。
IPC (3):
G01B 11/16 ,  G01L 1/24 ,  G02B 6/00
FI (3):
G01B 11/16 Z ,  G01L 1/24 ,  G02B 6/00 B
F-Term (9):
2F065AA65 ,  2F065CC14 ,  2F065LL02 ,  2F065LL42 ,  2F065QQ00 ,  2H038AA03 ,  2H038AA22 ,  2H038AA34 ,  2H038BA25
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (14)
Show all

Return to Previous Page