Pat
J-GLOBAL ID:200903076180966058
眼科装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
日比谷 征彦
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000085633
Publication number (International publication number):2001269315
Application date: Mar. 27, 2000
Publication date: Oct. 02, 2001
Summary:
【要約】【課題】 眼屈折力や角膜曲率半径を精度良く求める。【解決手段】 眼屈折力測定光源からスポット像を被検眼眼底に投影し、その反射光をリング絞り、円錐プリズムを用いてリング状にし、そのリング像Rを撮像素子18により撮像を行い、楕円近似することにより被検眼Eの眼屈折力を求める。撮像された画像データは、画像メモリに転送され記憶される。楕円近似の方法として、水平方向H、垂直方向Vに画素に対応した座標をとり、この二次元座標の中心を(Hc,Vc)とする。マスクa1、a2及びその他の方向に設けたマスクの長辺に対して、垂直方向の線上のデータを用いて重心計算を行い、最小二乗法を使い楕円近似を行う。これにより求められた楕円から測定値である被検眼の屈折力、乱視、乱視軸角度が決定する。
Claim (excerpt):
被検眼情報を検出するための指標を光学的に投影する指標投影手段と、前記指標の被検眼からの反射像を撮像する撮像手段と、該撮像手段で撮像したリング像の特定の画素を抽出する長方形又は円弧状のマスクから成るマスク手段と、前記マスク内の画素データを前記マスクの長辺に対して垂直方向の線上のデータに基づいて濃度中心を演算する演算手段と、該演算手段の結果により得られた前記各マスクから得た濃度中心演算値を最小二乗近似で楕円演算をする楕円演算手段とを有することを特徴とする眼科装置。
IPC (3):
A61B 3/10
, G06T 1/00 290
, G06T 1/00 400
FI (4):
G06T 1/00 290 Z
, G06T 1/00 400 B
, A61B 3/10 M
, A61B 3/10 H
F-Term (27):
5B047AA17
, 5B047AB02
, 5B047BB04
, 5B047BC05
, 5B047BC09
, 5B047BC11
, 5B047BC14
, 5B047BC23
, 5B047DB01
, 5B047DC09
, 5B057AA07
, 5B057BA02
, 5B057BA19
, 5B057BA29
, 5B057CA08
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057CB08
, 5B057CB12
, 5B057CB16
, 5B057CE09
, 5B057CH08
, 5B057DB02
, 5B057DB09
, 5B057DC06
, 5B057DC09
, 5B057DC22
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (4)
-
検眼測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-048937
Applicant:キヤノン株式会社
-
眼科装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-296207
Applicant:株式会社ニコン
-
眼科用測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-115684
Applicant:キヤノン株式会社
-
光学式測定装置における画像処理方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-229215
Applicant:本田技研工業株式会社
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Cited by examiner (4)
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検眼測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-048937
Applicant:キヤノン株式会社
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眼科装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-296207
Applicant:株式会社ニコン
-
眼科用測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-115684
Applicant:キヤノン株式会社
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光学式測定装置における画像処理方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-229215
Applicant:本田技研工業株式会社
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