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J-GLOBAL ID:200903076685299919

トンネル構造体およびトンネル構造体の損傷診断方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 岡田 英彦 (外4名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001339900
Publication number (International publication number):2003138892
Application date: Nov. 05, 2001
Publication date: May. 14, 2003
Summary:
【要約】【課題】トンネル構造体などにおける劣化や損傷等の健全性を診断する技術を提供する。【解決手段】導電性粒子8,28の連続的な接触形態を有する導電経路4,24を備えるトンネル構造体とする。この導電経路4,24によれば、トンネル構造体における損傷・劣化の早期検出、損傷部位特定、損傷履歴の記憶などに有効であり、トンネル構造体の健全性診断システムとして適用できる。
Claim (excerpt):
導電性粒子の連続的な接触形態を有する導電経路を有する、トンネル構造体。
IPC (2):
E21D 11/04 ,  G01L 1/20
FI (2):
E21D 11/04 Z ,  G01L 1/20 Z
F-Term (6):
2D055CA03 ,  2D055DA00 ,  2D055DB00 ,  2D055KA00 ,  2D055LA13 ,  2D055LA16
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (9)
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