液晶表示素子またはそのカラーフィルタの欠陥検査方法

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：鈴江武彦 (外5名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996121854
Publication number (International publication number)：1997304226
Application date： May. 16, 1996
Publication date： Nov. 28, 1997
Summary：

【要約】【課題】液晶表示素子の表示欠陥の有無を、能率良く、しかも高い信頼度で判定する。【解決手段】液晶表示素子の各列の画素の出射光を順次検出し、その検出信号と、この検出信号を所定周期遅らせた遅延信号とのうちの一方の信号から他方の信号を減算処理して得た差信号の波形から表示欠陥の有無を判定する。

Claim (excerpt)：

液晶表示素子の表示欠陥を検査する方法であって、前記液晶表示素子の各列の画素の出射光を順次検出し、その検出信号と、この検出信号を所定周期遅らせた遅延信号とのうちの一方の信号から他方の信号を減算処理して得た差信号の波形から表示欠陥の有無を判定することを特徴とする液晶表示素子の欠陥検査方法。

IPC (5)：

G01M 11/00 , G02B 5/20 101 , G02F 1/13 101 , G02F 1/133 505 , G09F 9/00 352

FI (5)：

G01M 11/00 T , G02B 5/20 101 , G02F 1/13 101 , G02F 1/133 505 , G09F 9/00 352

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

周期性パターンの検査装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-340843 Applicant：大日本スクリーン製造株式会社
検査装置及び検査方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-252074 Applicant：アドモンサイエンス株式会社, 日本フェローフルイディクス株式会社
光学式液晶カラーディスプレイ欠陥検査装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-169555 Applicant：エヌティエヌ株式会社

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