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J-GLOBAL ID：200903077026304138
変位測定装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
磯野 道造
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002212017
Publication number (International publication number)：2004053437
Application date： Jul. 22, 2002
Publication date： Feb. 19, 2004
Summary：
【課題】本発明は、建造物等の変位量を測定するために、建造物の任意の箇所に簡単に設置できると共に高精度の測定ができる変位測定装置を提供する。【解決手段】構造物駆体4の水平方向に設置された光ファイバ3Aと高さ方向に光ファイバ3Bが設置されて直列に連結されている状態で、構造物駆体4が僅かに傾くと、光ファイバ3A(3B)は収縮すると共に内部で反射光が生じ、この反射光と入射光の周波数の変化を測定することで、変形があった構造物駆体4の場所と、変位量を解析装置2で測定する。【選択図】 図2
Claim (excerpt)：
光ファイバをコイル状に形成すると共に、前記コイルの伸縮によって発生する歪から変位量を測定することを特徴とする変位測定装置。
IPC (2)：
FI (2)：
G01B11/16 Z
, G01D21/00 D
2F065AA01
, 2F065AA65
, 2F065CC14
, 2F065DD16
, 2F065FF48
, 2F065GG08
, 2F065GG24
, 2F065LL02
, 2F076BB07
, 2F076BD06
, 2F076BE02
Cited by examiner (9)
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