Pat
J-GLOBAL ID:200903077256446934
電離層電子密度算出装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (7):
三好 秀和
, 岩▲崎▼ 幸邦
, 川又 澄雄
, 中村 友之
, 伊藤 正和
, 高橋 俊一
, 高松 俊雄
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2006303123
Publication number (International publication number):2008122100
Application date: Nov. 08, 2006
Publication date: May. 29, 2008
Summary:
【課題】電離層の状態に即して、電離層中の所望の位置における電子密度を算出することができる電離層電子密度算出装置を提供する。【解決手段】放送信号をアレイアンテナ41で受信すると、演算部45は、受信信号から求めた到来方位角、到来仰角と、電離層電子密度分布モデルにより算出した放送信号の伝搬経路から求めた到来方位角、到来仰角との誤差を求める。衛星観測部1は観測した衛星信号からその通過経路における総電子数を求める。演算部45は、衛星観測部1で求めた衛星信号の通過経路の総電子数と、電離層電子密度分布モデルから求めた衛星信号の通過経路における総電子数との誤差を求める。演算部45は、電離層電子密度分布モデルに入力するパラメータを、初期値からモンテカルロ法的な手法により修正し、逐次誤差指標を算出し、誤差指標が所定の閾値以下になった際のパラメータを用い、所望の位置の電子密度を算出する。【選択図】図1
Claim (excerpt):
電離層を通過して到来する電波を受信するアレイアンテナと、
このアレイアンテナからの出力信号から前記電波の到来方位角、到来仰角を第1の到来方位角、第1の到来仰角として算出する第1の方向算出手段と、
電離層の電子密度分布を示す電離層電子密度分布モデルに入力する複数のパラメータをその初期値から変化させるための変化量を乱数により生成する変化量生成手段と、
この変化量生成手段で生成した変化量の分だけ初期値から変化した前記各パラメータ、および前記電離層電子密度分布モデルを用いて、前記アレイアンテナで受信した前記電波の伝搬経路を算出し、この伝搬経路に基づいて前記電波の到来方位角、到来仰角を第2の到来方位角、第2の到来仰角として算出する第2の方向算出手段と、
航法衛星から送信される複数周波数の衛星信号を受信する衛星信号受信手段と、
この衛星信号受信手段で受信した前記複数周波数の衛星信号の電離層での周波数による伝搬遅延量の差を用いて、前記衛星信号の通過経路における総電子数を第1の総電子数として算出する第1の総電子数算出手段と、
前記変化量生成手段で生成した変化量の分だけ初期値から変化した前記各パラメータ、および前記電離層電子密度分布モデルを用いて、前記衛星信号の通過経路おける総電子数を第2の総電子数として算出する第2の総電子数算出手段と、
前記第1の到来方位角と前記第2の到来方位角との差である第1の誤差を算出し、前記第1の到来仰角と前記第2の到来仰角との差である第2の誤差を算出し、前記第1の総電子数と前記第2の総電子数との差である第3の誤差を算出するとともに、前記第1〜第3の誤差を合わせた値の大きさの指標である誤差指標を算出する誤差指標算出手段と、
この誤差指標算出手段で算出した前記誤差指標が所定の閾値以下であるか否かを判断し、前記誤差指標が前記所定の閾値以下のとき、当該誤差指標の算出に用いた前記第2の到来方位角、前記第2の到来仰角、および前記第2の総電子数の算出に用いた変化量の分だけ所望の位置における初期値から変化した前記各パラメータ、および前記電離層電子密度分布モデルを用いて、前記所望の位置の電子密度を算出する電子密度算出手段と
を備えることを特徴とする電離層電子密度算出装置。
IPC (1):
FI (1):
F-Term (8):
5J062AA09
, 5J062AA11
, 5J062CC07
, 5J062CC13
, 5J062DD03
, 5J062DD23
, 5J062EE02
, 5J062GG02
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (6)
-
電離層電子密度算出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2006-303116
Applicant:株式会社東芝
-
電離層モデル補正方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2006-165048
Applicant:株式会社東芝
-
電波伝搬経路推定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2006-051519
Applicant:株式会社東芝
-
衛星測位システムにおける電離層誤差の予測と補正
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2003-568434
Applicant:サーフテクノロジーインコーポレイテッド, 松下電工株式会社
-
衛星測位装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-210809
Applicant:日本無線株式会社
-
衛星無線測位
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-282545
Applicant:インターナショナルモービルサテライトオーガニゼイション
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Cited by examiner (6)
-
電離層電子密度算出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2006-303116
Applicant:株式会社東芝
-
電離層モデル補正方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2006-165048
Applicant:株式会社東芝
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電波伝搬経路推定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2006-051519
Applicant:株式会社東芝
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衛星測位システムにおける電離層誤差の予測と補正
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2003-568434
Applicant:サーフテクノロジーインコーポレイテッド, 松下電工株式会社
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衛星測位装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-210809
Applicant:日本無線株式会社
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衛星無線測位
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-282545
Applicant:インターナショナルモービルサテライトオーガニゼイション
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