全反射減衰を利用したセンサーおよび測定チップアセンブリ

Inventor： , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：柳田征史 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002085970
Publication number (International publication number)：2002372490
Application date： Mar. 26, 2002
Publication date： Dec. 26, 2002
Summary：

【要約】【課題】表面プラズモン共鳴等による全反射減衰を利用したセンサーにおいて、測定ユニットに供給された試料液の蒸発を防止し、測定精度を向上する。【解決手段】出入機構65により、カップ状の測定ユニット10がターンテーブル20上に配置され、試料液供給機構64により試料液が測定ユニット10に滴下供給される。ターンテーブル20が回動し、所定位置で、オイル供給機構80により、微少量のオイルが滴下供給される。さらにターンテーブル20が回動し、光ビーム30を測定ユニット10の内底面に形成された金属膜と、その下の誘電体ブロックとの界面で全反射条件が得られるように種々の角度で入射させ、界面において全反射した光ビーム30を光検出器40で検出し、該光検出値に基づいて全反射減衰の状態を測定し、試料液の特性を求める。測定ユニット10内の試料液の表面はオイルにより覆われているため、試料液の蒸発が防止され、測定精度が向上する。

Claim (excerpt)：

光ビームを発生させる光源と、前記光ビームに対して透明な誘電体ブロック、この誘電体ブロックの上面に形成された薄膜層、この薄膜層上に試料液を保持する1つまたは複数の試料液保持部を備えてなる測定チップと、前記光ビームを前記誘電体ブロックに対して、該誘電体ブロックと前記薄膜層との界面で全反射条件が得られるように種々の入射角で入射させる光学系と、前記界面で全反射した光ビームの強度を検出する光検出手段と、該光検出手段の検出結果に基づいて、全反射減衰の状態を測定する測定手段とを備えた全反射減衰を利用したセンサーにおいて、前記測定チップの試料液保持部が上部に開口部を有するものであり、前記開口部に、試料液の蒸発を防止する蓋手段を設ける蓋手段供給手段を備えたことを特徴とする全反射減衰を利用したセンサー。

IPC (7)：

G01N 21/27 , G01N 21/01 , G01N 21/03 , G01N 21/13 , G01N 21/45 , G01N 35/04 , G01N 35/10

FI (7)：

G01N 21/27 C , G01N 21/01 B , G01N 21/03 Z , G01N 21/13 , G01N 21/45 A , G01N 35/04 A , G01N 35/06 A

F-Term (34)：

2G057AA02 , 2G057AB04 , 2G057AB07 , 2G057AC01 , 2G057BA01 , 2G057BB01 , 2G057BB06 , 2G057BC07 , 2G057HA04 , 2G058AA09 , 2G058CC17 , 2G058CD04 , 2G058CF12 , 2G058EA02 , 2G058ED03 , 2G058GA02 , 2G059AA02 , 2G059BB04 , 2G059BB12 , 2G059CC16 , 2G059DD12 , 2G059DD13 , 2G059EE01 , 2G059EE02 , 2G059EE09 , 2G059FF11 , 2G059GG01 , 2G059GG03 , 2G059JJ19 , 2G059JJ20 , 2G059JJ22 , 2G059KK03 , 2G059KK04 , 2G059PP04

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (8)

濃縮膜を形成したシリコン導波路を用いた赤外吸収測定用セル
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-163210 Applicant：日本電信電話株式会社
特開平4-353747
分子間相互作用測定プレートおよび測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-105671 Applicant：株式会社島津製作所

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